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Free Spectral Range(FSR)（GHz）
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FFP-I Fiber Fabry-Perot Interferometer高速传感器
FFP-I Fiber Fabry-Perot Interferometer是一款高性能的光学设备，适用于光学性能监测、光谱分析等多种应用。
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PhaseCam MWIR
测量类型: Shape, Phase (wavefront) 目标形状: 2D, 3D 聚焦范围: ± 20 mm 应用: Material Measurement4D Technology的PhaseCam MWIR是一款干涉仪，波长为3390 nm，工作温度为16至27摄氏度。PhaseCam MWIR的更多详情见下文。
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E1715A
目标形状: 2D, 3D 应用: Plane Mirror Measurement是德科技（Keysight Technologies）的E1715A是一款专为现代激光计量系统设计的3轴干涉仪。它基于Keysight先进的单片光学设计技术，具有高指向稳定性。该干涉仪集成了带有ST连接器的远程传感器，无需单独安装远程传感器。它的光学分辨率为λ/4，采用平面镜，输出效率为18%。该干涉仪产生直径为4 mm的光束，平行角小于25μrad（轴1-2和轴1-3），并且相对于加工基准具有出色的光束角精度。除标准配置外，E1715A还有三个可选版本-一个不包括远程传感器，一个包括输入弯折镜，第三个版本结合了这两个选项。它采用紧凑的不锈钢外壳，尺寸为68 X 55 X 44 mm，输出耦合到400微米塑料或玻璃光纤，配有ST连接器，NA为0.39。
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Verifire
聚焦范围: ± 2.5 m, ± 5.5 m 应用: Surface MeasurementZygo公司的VeriFire是一款Fizeau干涉仪，具有专利的QPSI采集功能，并配有一个160 Hz的摄像机，可提供1200 X 1200像素的分辨率。它有一个有线和无线?？乇嗦虢沟憧汕谢黄裉准?，具有1-5倍的光学放大倍率。该干涉仪具有633nm高功率稳定HeNe激光源，其产生最小3mW的IIIA类偏振输出。它的测试光束直径为4或6英寸，光学中心线为4.25英寸。该干涉仪需要81-188ms的采集时间，4英寸的光瞳聚焦范围为±2.5m，6英寸的光瞳聚焦范围为±5.5m.它可以通过高性能戴尔PC、Windows 1064位、MX?软件进行控制，并具有水平或垂直安装配置。VeriFire具有3种数据采集模式，即PSI（时间相移干涉测量法）、QPSI（振动稳健的时间相移干涉测量法）和可选的DynaPhase（振动不敏感的瞬时干涉测量）。它有一个带双点分划板的快速条纹采集系统（QFAS），需要100-240 V的交流电源。它采用尺寸为69 X 31 X 34 cm（4英寸）或92 X 31 X 34 cm（6英寸）的封装，是反射光学器件、透明光学器件和成像系统的理想选择。
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INT-MZI-1300
探测器类型: PIN 光纤类型: SMF28 应用: OCT Imaging SystemsThorlabs公司的INT-MZI-1300是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为103.3 GHz，波长为1225至1375 nm.有关INT-MZI-1300的更多详细信息，请联系我们。
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球面光学干涉仪 OWI桌面60毫米
干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified紧凑型车间干涉仪OWI Desktop 60 mm是内窥镜检查和微型生产的理想测量机器。
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Verifire HDX干涉仪用于精确的中间空间频率特性分析
干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular, Elliptical, Random 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not SpecifiedZygo的新型VeriFire HDX干涉仪专为极高性能光学元件和系统的中间空间频率成分表征而设计和制造。该系统包括广受欢迎的VeriFire HD的所有强大功能（如QPSI和长寿命稳定激光器），并增加了重要的增强功能，如新的同类较佳成像和高仪器传递函数（ITF）分辨率、中间空间频率内容和高斜率表面偏差的卓越特性，以及Zygo的DynaPhase?动态采集技术（可选），该技术可消除振动引起的问题，并在几乎任何环境中实现精密计量。
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OWI 150 XT invers
应用: 用于测量球面和非球面光学元件的干涉仪用于球面和非球面检测的高精度Fizeau车间干涉仪。 高精度运动学和高达150毫米的工作范围使该测量机成为高端光学产品生产不可或缺的工具。 测量支架由减震花岗岩制成，具有高的精度和刚度 被动空气减震元件安装在稳定的钢制底座上 半径滑块，带预载无间隙抗摩擦轴承，由伺服电机驱动，通过操纵杆变速，行程1050毫米 三轴工作台（可选配五轴工作台） 海德汉玻璃光栅尺，总行程测量精度为5 μm，实现半径的绝对测量精度，光栅尺安装在光轴附近（阿贝原理） 创新的、便于维护的现有类型干涉仪安装，包括分析软件（MAHR MarOpto FI 1100 Z、Zygo GPI/Verifire 4英寸和6英寸干涉仪）
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OWI 150 XT 1500
应用: 车间干涉仪 球面和非球面 光学元件- 优化用于生产 测量支架由花岗岩制成，具有高的精度和刚度 - 不锈钢机器底座。被动式空气减震元件安装在稳定的钢制底座上。 - 3个带花岗岩塔架的被动空气减震元件，具有最高的精度和刚度。 - 弧度滑块，带无间隙预应力摩擦轴承，由伺服电机驱动。带无间隙预应力摩擦轴承的半径滑块，由伺服电机驱动。操纵杆用于变 操纵杆用于变速行走，最大行程1500mm。 - 三轴精密可调工作台（多种X/Y测量选项 三轴精密可调工作台） - 海德汉玻璃光栅尺，测量精度为5微米。海德汉玻璃光栅尺，总行程测量精度为5 μm，用于半径的绝对测量精度、 光栅尺靠近光轴安装（阿贝原理） - 通过激光对中测量半径轴（包括 测量协议） - 创新性地安装当前类型的干涉仪（MAHR MarOpto FI 1100 Z, Zygo 4 通过激光对中测量半径轴，包括测量协议。 英寸和6英寸，?pre S100/150 HR），包括分析软件。 软件 - 通过镜子系统重新定向半径轴，节省空间 安装方便 - 包括带集成电气柜和存储系统的移动式 包括带集成电气柜和存储系统的移动式 PC 工作站
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NSLI-594-1 N-Slit激光干涉仪
干涉仪配置: Not Specified 光源: 594nm 输出极化: Not Specified 有效值精度: Not Specified通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。
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OWI 300 Plano
应用: 平面非接触测试和测量刚性门式结构上的垂直梁导向 安装在减震花岗岩底座上 被动式空气减震器 用于放大干涉图像的电动变焦装置 用于横向定位的空气轴承台 尖端和倾斜装置 安全气壳
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用于缝合的QED Inteferometer QIS
干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not SpecifiedQIS干涉仪完全由QED技术公司设计、制造和建造。它针对拼接进行了优化，使客户能够测量更多零件，并提高了精度、速度和易用性。QED的QIS集成了硬件和软件功能，旨在增强QED计量产品的性能。专有的QIS相干成像系统允许用户获得更高的条纹密度和更大的对比度。QIS先进的光学设计减少了常见的误差，如回扫和放大误差。此外，QIS提供的更大的焦点行程允许测量比通用干涉仪更短半径的零件。QIS也使用与QED的Q-Flex?MRF?系统相同的软件平台QED.NET进行设计。这使得系统之间的无缝通信成为可能。新的1920 X 1920像素，高分辨率相机可以提高点测量能力。这意味着您可以更准确地表征MRF移除函数，使您能够做出更好的制造工艺决策，并更快、更准确地实现收敛。
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PhaseCam 6010
测量类型: Shape, Phase (wavefront), Reflectivity 目标形状: 2D, 3D 聚焦范围: ± 12.5 mm 应用: Optical Quality Control, Vacuum and Environmental Chamber Testing,, Optical Testing4D Technology的PhaseCam 6010是一款动态Twyman-Green干涉仪，工作波长为632.8 nm.它有一个400万像素的摄像头，可对所有内部功能进行全电动控制，并可对光路测量进行轴上照明和成像。该圆偏振干涉仪具有光纤耦合头和激光源模块，可提供1.5 MW的输出功率，并在FWHM下产生直径为7 mm的光束。PhaseCam 6010具有动态干涉测量技术，该技术使用单个相机高速光学相位传感器在小于30&μs的时间内进行波前测量。该干涉仪的采集速率超过15帧/秒，可在几乎任何条件下使用，无需隔振。PhaseCam 6010功耗高达750 W，采用尺寸为18 X 16.2 X 9.1 cm（测量头）的封装，配有48.3 X 20.3 X 11.9 cm激光源。它是米级望远镜光学系统、大型成像系统校准、真空和环境室测试、测试计算机生成全息图和生产车间质量控制应用的理想选择。
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费佐干涉仪（Verifire Fizeau）
干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not SpecifiedZygo的VeriFire?干涉仪系统可对普莱诺或球面以及光学系统和组件的透射波前进行快速高精度测量。测量玻璃或塑料光学元件（如平面、透镜和棱镜），甚至精密加工的金属和陶瓷表面。VeriFire?系统采用真正的激光斐索设计，扩展了Zygo在表面形状计量方面无与伦比的经验。轴上配置与Zygo的专利采集算法和全功能MX?计量软件相结合，可实现具有高级分析功能的高精度表面形状计量。
