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平场和成像光栅 523 00 050
分散: 40nm/mm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 120l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐?，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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单色仪光栅 522 00 540
光谱范围: 400 - 1100 nm 分散: 9nm/mm 沟槽密度: 670l/mm 偏差 D: 27deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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平场和成像光栅 523 00 630
分散: 67nm/mm 频谱长度: 5mm F/Number: 1.5 沟槽密度: 320l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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蔡司凹面光栅792039-9901-000
沟槽密度: 2700l/mm 基底材料: Zerodur 曲率半径: 501.19mm凹面衍射光栅是用于紧凑型光谱仪的衍射光学元件。通过在单个元件中结合色散和成像特性，凹面光栅减少了杂散光，增加了光强度，并且对于在二极管阵列或CCD/CMOS传感器上成像光谱是理想的。所有成像光栅的基本形式都是罗兰圆光栅。蔡氏凹面光栅是用全息方法制作的。这优化了焦平面，并在具有一定范围的凹槽轮廓的宽光谱范围内使像差（例如像散、球面像差和彗差）较小化。
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平场和成像光栅 523 00 410
分散: 1.1nm/mm 频谱长度: 70mm F/Number: 6.7 沟槽密度: 2000l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐?，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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划线型平面光栅 510 48
沟槽密度: 100l/mm 闪耀波长: 450nm 基底材料: Custom, Metallic, ULE, Zerodur, Fused Silica, NBK7, PyrexHORIBA Jobin Yvon生产了各种直纹母光栅，我们用这些母光栅制造高精度复制品。我们的高精度复制光栅的尺寸范围通常从25x25 mm到120x140 mm。
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划线平面光栅 510 91
沟槽密度: 900l/mm 闪耀波长: 350nm 基底材料: Custom, Metallic, ULE, Zerodur, Fused Silica, NBK7, PyrexHORIBA Jobin Yvon生产了各种直纹母光栅，我们用这些母光栅制造高精度复制品。我们的高精度复制光栅的尺寸范围通常从25x25 mm到120x140 mm。
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平场和成像光栅 523 01 020
分散: 14nm/mm 频谱长度: 18.8mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 360l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 00 020
分散: 16nm/mm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 300l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐?，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 533 00 570
分散: 10nm/mm 频谱长度: 37.1mm F/Number: 3 沟槽密度: 950l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐希⒍懒⒌仄拦览醋悦扛鲈吹墓馄?。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 00 210
分散: 15.6nm/mm 频谱长度: 12.8mm F/Number: 2.2 沟槽密度: 595l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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炽热全息光栅 530 20
沟槽密度: 1800l/mm 光谱范围: 190 - 700 nm 火焰: Blazed 闪耀波长: 250nm 基底材料: Fused Silica, NBK7, Pyrex, Zerodur, ULE, Metallic, CustomHORIBA Jobin Yvon生产了一系列闪耀全息母光栅，我们用这些母光栅制作了高精度的复制品。我们的复制光栅保留了OurMaster全息光栅的优点：完美的周期性，加上表面极佳的微粗糙度，消除了鬼影并增强了杂散光抑制较小的凹槽误差提供了非常高的分辨率此外，由于其离子蚀刻的锯齿槽轮廓，这些光栅提供了比标准全息光栅更高的峰值效率。
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平场和成像光栅 523 00 150
分散: 67.4nm/mm 频谱长度: 8.9mm F/Number: 2 沟槽密度: 130l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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单色仪光栅 522 00 500
光谱范围: 1200 - 2400 nm 分散: 3nm/mm 沟槽密度: 570l/mm 偏差 D: 38deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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平场和成像光栅 523 00 060
分散: 48nm/mm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 100l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 00 030
分散: 24nm/mm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 200l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐?，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 543 00 180
分散: 5nm/mm 频谱长度: 4mm F/Number: 3.9 沟槽密度: 376l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐希⒍懒⒌仄拦览醋悦扛鲈吹墓馄?。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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单色仪光栅 522 00 450
光谱范围: 200 - 800 nm 分散: 2.2nm/mm 沟槽密度: 1484l/mm 偏差 D: 46.4deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。