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产品知识:
XRV系列X射线和质子束检测系统将精确计量与高能辐射检测相结合，形成了一种完全电子化的薄膜测量替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔状薄电离辐射束的XYZ位置和矢量。光束矢量、轮廓和发散度可以在几秒钟而不是几小时内获得。自动化脚本可用于捕获光束形状、强度、位置和方向随时间的变化，以用于后续分析或三维体积重建。
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