修车大队一品楼qm论坛51一品茶楼论坛,栖凤楼品茶全国楼凤app软件 ,栖凤阁全国论坛入口,广州百花丛bhc论坛杭州百花坊妃子阁

发射率,辐射系数(Emissivity)

更新时间:2025-12-06 14:06:36

分类: 普通光学

定义: 测量物体发射和吸收热辐射的强度。

发射率,辐射系数(Emissivity) 详述

纠错

目录

1. 诞生背景

发射率,或称辐射系数,是一个物体发射和吸收热辐射的强度的度量。这个概念在19世纪末由物理学家Max Planck提出,他在研究黑体辐射时发现,物体的发射率与其吸收率成正比,这就是著名的Kirchhoff定律。

2. 相关理论或原理

发射率的定义是一个物体的辐射强度与理想黑体在相同条件下的辐射强度之比。理想黑体是一个完全吸收所有入射辐射的物体,其发射率为1。物体的发射率与其温度、表面特性和辐射波长有关。发射率的计算公式为E=σT^4,其中E是辐射强度,σ是斯特藩-玻尔兹曼常数,T是物体的绝对温度。

3. 重要参数指标

发射率的主要参数包括温度、表面特性和辐射波长。不同的物体和材料,其发射率也会有所不同。例如,黑色的物体发射率较高,而光滑的金属表面发射率较低。此外,发射率还与温度有关,一般来说,温度越高,发射率越大。

4. 应用

发射率在许多领域都有应用,如热力学、材料科学、天文学等。在热力学中,发射率用于计算物体的辐射热传递。在材料科学中,通过测量材料的发射率,可以了解材料的热辐射特性。在天文学中,通过测量星体的发射率,可以推测星体的温度和化学成分。

5. 分类

根据物体的特性,发射率可以分为总发射率和光谱发射率。总发射率是物体在所有波长下的发射率的平均值,而光谱发射率是物体在特定波长下的发射率。

6. 未来发展趋势

随着科学技术的发展,对发射率的研究和应用也将进一步深入。例如,通过调整材料的结构和组成,可以制造出具有特定发射率的材料,这在热管理、能源转换和环境?;さ攘煊蛴兄匾挠τ们熬?。

7. 相关产品及生产商

目前市场上有许多测量发射率的仪器,如红外热像仪、热辐射计等。这些产品的生产商包括FLIR Systems、Testo AG、Omega Engineering等。

收藏

收藏

相关产品

图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • ZEISS Sigma 300 光谱分析仪 ZEISS Sigma 300 光谱分析仪 蔡司

    拉曼共聚焦显微镜设置: 532nm with 75mW or 30mW laser 适配法兰、CCD和导航软件: Laser safety interlock for laser class 1M CCD相机升级: Back-illuminated CCD

    ZEISS Sigma 300 with RISE是一款集成了拉曼成像和扫描电子显微镜(SEM)的高端设备,能够实现化学和结构指纹分析,提供3D共聚焦拉曼成像功能,识别分子和晶体学信息,并将SEM成像与拉曼映射和EDS数据相关联。

  • LSM 990光谱复用器 光谱分析仪 LSM 990光谱复用器 光谱分析仪 蔡司

    光谱范围: 380nm-900nm 探测器数量: 32个GaAsP检测器,2个NIR GaAs和GaAsP检测器 激光波长范围: 405nm-730nm

    ZEISS LSM 990 Spectral Multiplex是一款先进的光谱成像系统,专为深入理解空间生物学而设计。它能够高效分离荧光标签,优化多蛋白标记实验,并消除自发荧光干扰。

  • Axio Observer 倒置显微镜系统 光谱分析仪 Axio Observer 倒置显微镜系统 光谱分析仪 蔡司

    储存温度范围: +5°C至+40°C 包装条件允许的空气湿度: 最大75%至+25°C 运输条件允许的空气湿度: 最大75%至+25°C

    Axio Observer是一款倒置显微镜系统,专为金相学研究设计,能够快速、灵活且经济地分析大量样品。其倒置结构无需重新聚焦,即使在更换放大倍率或样品时也能保持高效。结合ZEISS的高质量光学元件和自动化组件,提供可靠且可重复的结果。

  • SmartEDX 光谱分析仪 SmartEDX 光谱分析仪 蔡司

    探测器类型: Silicon Drift 冷却方式: Peltier (LN-free) 有效区域: 30mm2

    ZEISS SmartEDX是一款专为扫描电子显微镜(SEM)微分析应用设计的能量色散光谱仪(EDS)解决方案,旨在简化分析流程并提高数据重复性。

  • Crossbeam Family 光谱分析仪 Crossbeam Family 光谱分析仪 蔡司

    电子枪类型: Schottky emitter 加速电压范围: 0.2kV-30kV 分辨率: 1.4nm@1kV, 0.7nm@15kV

    ZEISS Crossbeam系列结合了场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)和下一代聚焦离子束(FIB)的强大成像和分析性能,适用于高通量3D分析和样品制备。

光电查百科纠错

选择错误类型

  • 内容错误
  • 图片错误

提供正确信息

联系方式

提交