研究目的
研究掺镓氧化镁锌(GMZO)薄膜中宽带溅射激发等离激元特征的产生及其在无缓冲层等离激元增强太阳能电池中的适用性。
研究成果
该研究证实了GMZO薄膜中等离子体的产生及其对GMZO/吸收体异质结结区特性的积极影响。模拟研究表明,导带最佳位置应比吸收体导带高0.0-0.4电子伏特,这为设计无缓冲层太阳能电池中TCO与吸收体的新型材料组合提供了重要指导方针。
研究不足
技术限制包括:需要可扩展且经济可行的可控纳米结构图案化技术、金属纳米结构中的寄生光吸收问题,以及金属-半导体界面附近增强的载流子复合现象。应用限制则涉及实现具有超薄透明导电氧化物(TCO)的等离激元增强光伏器件的挑战——这类TCO需具备足够低的电阻率和足够高的透射率。
1:实验设计与方法选择:
采用双离子束溅射(DIBS)系统沉积GMZO薄膜。
2:样品选择与数据来源:
在300°C下于硅衬底上沉积厚度为150 nm的GMZO薄膜。
3:实验设备与材料清单:
DIBS系统、Rigaku SmartLab X射线衍射(XRD)系统、场发射扫描电子显微镜(FESEM)、X射线光电子能谱(XPS)、紫外光电子能谱(UPS)、M-2000D J.A. Woollam光谱椭偏仪(SE)。
4:实验步骤与操作流程:
沉积GMZO和CIGSe薄膜,分析结晶质量、形貌特性、元素特性、带阶及等离子体特性。
5:数据分析方法:
分析UPS光谱、FESEM图像、SE数据,并使用SCAPS软件进行模拟研究。
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Rigaku SmartLab X-ray diffraction (XRD) system
SmartLab
Rigaku
Analysis of crystalline quality of GMZO and CIGSe thin-films
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Field-emission scanning electron microscope (FESEM)
Supra55
Zeiss
Studying the morphological properties of samples
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Spectroscopic ellipsometry (SE)
M-2000D
J.A. Woollam
Analysis of optical properties, such as dielectric functions, dispersion curves, and absorption, of the samples
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DIBS system
Not specified
Not specified
Deposition of GMZO thin-films
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X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS)
PHOIBOS 100 analyser
Not specified
Examination of elemental properties, band-offset and plasmonic properties of the samples
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