研究目的
研究浴温对恒电位沉积Cu2O薄膜物理与电学特性的影响及其在异质结太阳能电池中的应用
研究成果
研究表明，在40°C下沉积的Cu2O薄膜具有更优异的晶体质量、更高的受主浓度和更好的光电导响应，与高温沉积的薄膜相比，更适合用于异质结太阳能电池应用。
研究不足
本研究仅限于探讨40至70°C浴温范围内对Cu2O薄膜性能的影响。研究结果可能不适用于其他沉积条件或材料。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用电化学沉积法，在不同镀液温度（40、55和70°C）下于氟掺杂氧化锡（FTO）基底上制备Cu2O薄膜。通过XRD、SEM、显微拉曼光谱、PL光谱、紫外-可见光谱、LCR测量及Keithley 4200半导体特性分析系统，对样品的结构、形貌、振动、光学及电学性能进行分析。
2：55和70°C）下于氟掺杂氧化锡（FTO）基底上制备Cu2O薄膜。通过XRD、SEM、显微拉曼光谱、PL光谱、紫外-可见光谱、LCR测量及Keithley 4200半导体特性分析系统，对样品的结构、形貌、振动、光学及电学性能进行分析。 样品选择与数据来源：
2. 样品选择与数据来源：以FTO玻璃为工作电极，铂片和Ag/AgCl分别作为对电极和参比电极。沉积溶液含0.15 M CuSO4·5H2O与1 M乳酸（溶于30 mL去离子水），用NaOH调节pH至约11。
3：15 M CuSO4·5H2O与1 M乳酸（溶于30 mL去离子水），用NaOH调节pH至约11。 实验设备与材料清单：
3. 实验设备与材料清单：X射线衍射仪（X’PERTPRO PANalytical）、扫描电子显微镜（ZEISS）、显微拉曼光谱仪、光致发光光谱仪（RF-6000，SHIMADZU）、紫外-可见-近红外分光光度计（UV-1800，SHIMADZU）、触针式轮廓仪、LCR测试仪、Keithley 4200半导体特性分析系统。
4：实验流程与操作步骤：
在恒定电位?0.4 V下沉积30分钟制备Cu2O薄膜。通过改变温度（40-70°C）研究镀液温度对薄膜性能的影响。
5：4 V下沉积30分钟制备Cu2O薄膜。通过改变温度（40-70°C）研究镀液温度对薄膜性能的影响。 数据分析方法：
5. 数据分析方法：采用Debye-Scherrer公式计算晶粒尺寸，通过特定方程估算位错密度与微应变，利用Tauc图确定光学带隙。
独家科研数据包，助您复现前沿成果，加速创新突破
获取完整内容-
X-ray diffraction meter system
X’PERTPRO PAN analytical
PANalytical
Studying the crystal structure of the films
暂无现货
预约到货通知
-
Scanning electron microscopy
ZEISS
ZEISS
Surface morphological study
暂无现货
预约到货通知
-
Photoluminescence spectroscopy
RF-6000
SHIMADZU
Studying the luminescence properties of Cu2O thin films
立即获取同款设备 -
UV–Vis-NIR spectroscopy
UV-1800
SHIMADZU
Exploring optical absorbance, transmittance and band gap of the films
暂无现货
预约到货通知
-
Keithley semiconductor characterization system
4200
Keithley
Carrying out photoconductivity (I-V) of the Cu2O films
暂无现货
预约到货通知
-
Micro Raman Spectroscopy
Not provided
Not provided
Analyzing the vibrational properties of the Cu2O films
暂无现货
预约到货通知
-
Stylus profilometer
Not provided
Not provided
Measuring thickness of the films
暂无现货
预约到货通知
-
LCR spectroscopy
Not provided
Not provided
Studying electrical properties of the thin films
暂无现货
预约到货通知
-
登录查看剩余6件设备及参数对照表
查看全部
