研究目的
使用连续波蓝光激光器制备金属-氧化物-半导体场效应晶体管的高质量栅氧化层,通过插入薄锆金属层以增强激光吸收并减少界面层。
研究成果
采用锆金属层的激光退火MOS电容器展现出更优异的电学性能,这归因于金属层带来的更高有效温度及吸除效应。该技术为单片三维集成所需的低温工艺提供了一种解决方案。
研究不足
该过程可能因材料性能不均匀和热应力导致热塑性变形,进而造成器件性能退化。
1:实验设计与方法选择
该研究采用连续波蓝光激光退火技术制备了W/ZrO2/Si金属-氧化物-半导体电容器(MOSCAPs)。通过插入薄Zr金属层以增强激光吸收效果。
2:样品选择与数据来源
选用低掺杂N型Si(100)晶圆作为衬底。样品分别制备了含/不含1纳米厚Zr金属层的两种类型。
3:实验设备与材料清单
设备包括连续波蓝光激光器、用于Zr和ZrO2沉积的溅射系统、LCR测试仪(安捷伦E4980A)及半导体分析仪(吉时利4200SCS)。材料包含Zr金属和ZrO2介电层。
4:实验流程与操作步骤
工艺流程包含:衬底清洗、Zr金属层沉积、ZrO2介电层沉积、激光/炉管退火、以及钨栅极金属沉积与图形化。
5:数据分析方法
通过LCR测试仪和半导体分析仪测量电学特性,采用电导法计算界面态密度。
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LCR meter
E4980A
Agilent
Measuring the electrical properties of MOSCAPs
E4980A/E4980AL Precision LCR Meter
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KEITHLEY
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