研究目的
为了理解金属催化化学蚀刻(MCCE)和反应离子蚀刻(RIE)纹理对光伏用多晶硅片光学特性的影响。
研究成果
研究表明,反应离子刻蚀(RIE)纹理与金属催化化学刻蚀(MCCE)纹理在反射率和散射特性上存在显著差异:RIE纹理具有更优的减反射性能,而MCCE纹理则能实现更好的光捕获效果。研究发现基底波纹度会影响光捕获效率,这为未来优化提供了方向。该成果有助于开发柔性光学建模工具,用于研究粗糙度与波纹度对电池及组件性能的影响。
研究不足
该研究聚焦于光学特性,并未直接探讨这些纹理对电学特性及工艺集成的影响。由于纹理配方的工业属性,其具体细节未予提供。
1:实验设计与方法选择:
本研究对多种基底类型上的MCCE和RIE纹理进行了详细的地形和光学表征。
2:样品选择与数据来源:
样品由行业合作伙伴提供,采用高通量且可扩展的技术进行纹理处理,并通过SEM、AFM和分光光度法进行表征。
3:实验设备与材料清单:
PerkinElmer Lambda 1050分光光度计、Bruker Dimension SPM ICON原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)。
4:实验步骤与操作流程:
使用分光光度法测量光学特性;通过SEM和AFM确定表面特性。
5:数据分析方法:
AFM数据使用Gwyddion软件分析;光学建模通过PV Lighthouse的SunSolve软件完成。
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