研究目的
为解决读出过程中焦耳热导致微测辐射热计传感器永久损坏的问题，提出一种自保护方案。
研究成果
所提出的自?；し桨改苡行Х乐刮⒉夥淙燃拼衅饕蚬蟮慕苟榷艿接谰眯运鹕?，实测?；ゃ兄翟嘉?60微秒，功耗低于50微瓦。
研究不足
该研究未探讨?；し桨冈谡Ｔ诵刑跫露蕴讲馄髁槊舳然蛳煊κ奔涞那痹谟跋?。
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[2019年IEEE国际电子器件与固态电路会议(EDSSC) - 中国西安 (2019.6.12-2019.6.14)] 2019年IEEE国际电子器件与固态电路会议(EDSSC) - 非制冷微测辐射热计成像仪的片上过热?；し桨?/a>
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[2019年IEEE国际电子器件与固态电路会议(EDSSC) - 中国西安 (2019.6.12-2019.6.14)] 2019年IEEE国际电子器件与固态电路会议(EDSSC) - 非制冷微测辐射热计成像仪的片上过热?；し桨?
DOI：10.1109/edssc.2019.8754357
出版年份：2019
更新时间：2025-09-11 14:15:04
摘要：
微测辐射热计传感器的焦耳热效应会在读出过程中快速加热元件，长时间加热可能导致探测器永久损坏。为解决该问题，我们提出了一种基于模拟行选时长检测电路的自?；し桨浮８帽；さ缏纺苡行вΧ愿骼嗍毙虼砦螅嵘鎏讲馄鞯穆嘲粜?。通过采用边缘延迟修调的级联或门逻辑，行级选择电路布局更规整且面积减小。为验证该方案，我们采用0.18μm CMOS工艺设计并制造了640×512阵列格式、17μm像素间距的非制冷红外探测器。电路功耗低于50μW，实测行周期保护阈值约为360μs。
作者：
Dahe Liu，Xueyou Shi，Guangyi Chen，Wengao Lu，Zhongjian Chen
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