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[IEEE 2019年欧洲激光与光电子学会议暨欧洲量子电子学会议(CLEO/Europe-EQEC) - 德国慕尼黑(2019年6月23日至27日)] 2019年欧洲激光与光电子学会议暨欧洲量子电子学会议(CLEO/Europe-EQEC) - 基于自由运转全光纤激光器的计算型高分辨率双梳光谱技术

DOI:10.1109/cleoe-eqec.2019.8871715 出版年份:2019 更新时间:2025-09-11 14:15:04
摘要: 双梳光谱技术(DCS)在光纤与半导体技术的最新进展推动下实现了显著发展。该技术的关键在于两个重复频率失配的频率梳之间的相互稳定性,传统方法需依赖额外光学与电子元件的反馈回路来实现光源同步。这一局限可通过多种方式突破,其中最具前景的方案是在单台自由运转光纤激光腔内产生双频率梳[1-3]。然而迄今为止,唯一被证实适用于多普勒受限光谱测量的方案是文献[2]提出的双色激光器——该方案需外接光谱展宽???,从而增加了系统复杂度。本文报道了一种极简型全光纤双梳激光器(AFDCL)的实现方案:该器件组件数量创纪录地精简,电池供电功耗仅0.35W(图1),特别适合多普勒受限跃迁的光谱测量。我们基于偏振复用技术[3]的核心创新在于:通过调节腔内偏振控制器(PC)和/或保偏光纤长度改变腔内偏振态,可轻松实现亚kHz至数十kHz范围的重复频率差调节——这是双色方案或双向方案无法实现的特性。此外,该器件实现了数十小时连续稳定运行,并创下AFDCL超过140MHz的超高重复频率纪录,从而最大化每根梳齿的光功率。得益于全新实时兼容相位校正算法(该算法彻底革新了传统互相关或互模糊函数范式),我们首次在自由运转模式下实现了高分辨率分子双梳光谱测量。实验演示显示:在10托气压下,200毫秒内即可完成H13C14N分子2ν3谱带P18-P27谱线的测量(图1b,c),其多普勒线宽约450MHz,在1THz带宽范围内精度优于1%。
作者: ?ukasz A. Sterczewski,Aleksandra Przew?oka,Wawrzyniec Kaszub,Jaros?aw Sotor
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研究概述 实验方案 设备清单

实现一种组件数量极少且功耗与电池供电兼容的全光纤双梳激光器(AFDCL),其结构大幅简化,适用于自由运行模式下的高分辨率分子双梳光谱测量。

该研究成功展示了一种简化的全光纤双梳激光器(AFDCL),其具有元件数量少、功耗低的特点,能够在自由运行模式下实现高分辨率分子光谱测量。这种新颖的相位校正算法显著降低了系统复杂度,从而能够精确测量分子跃迁。

该研究聚焦于一种全光纤双梳激光器的特定配置及其在高分辨率分子光谱学中的应用,这可能限制其推广至其他类型的光谱学或激光器配置。

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