研究目的
比较使用超声和Scheimpflug技术对LASIK角膜瓣厚度进行直接与间接测量的结果。
研究成果
与间接减法测量法相比，直接测量皮瓣厚度的方法与设定参数最为接近。需要进一步研究以确定哪种方法能最准确地测量皮瓣厚度。
研究不足
术后未进行角膜瓣厚度测量是一个局限性。前节光学相干断层扫描设备能够高精度地测量术后LASIK角膜瓣及剩余基质床的厚度。
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飞秒激光辅助原位角膜磨镶术中直接与间接瓣膜测量法
DOI：10.1097/ico.0000000000001836
期刊：Cornea
出版年份：2019
更新时间：2025-09-12 10:27:22
摘要：
比较使用超声和Scheimpflug技术直接与间接测量LASIK角膜瓣厚度。本研究前瞻性纳入82例接受飞秒激光（IntraLase FS150）辅助准分子原位角膜磨镶术治疗的眼睛，设定角膜瓣厚度为115微米。采用直接法（即制作角膜瓣后立即在存在空化气泡状态下进行超声测厚）与间接法测量角膜瓣厚度：间接法通过术中角膜瓣掀起后超声测量的基质层内角膜厚度（间接超声法）或Scheimpflug技术测得的最薄角膜厚度（间接Scheimpflug法），分别从术前中央角膜厚度中减去相应数值获得。间接测量法（间接超声法和间接Scheimpflug法）均高估平均角膜瓣厚度（分别为122.6±24.5微米和128.1±26.1微米，P值分别为<0.0060和<0.0001）。直接法与各间接法之间均无显著相关性，其中间接Scheimpflug法测量值显著高于间接超声法（P=0.0122）。与设定参数115微米最接近的平均角膜瓣厚度来自直接法（115.6±8.6微米；95%置信区间：±21.3至±2.5；P=0.5163），且直接法的测量标准差最?。⊿D=8.64）。相较于间接减法测量法，直接角膜瓣厚度测量法与设定参数的一致性最佳。需进一步研究确定哪种方法能最准确测量角膜瓣厚度。
作者：
Joao Crispim，Norma Allemann，Joelle A. Hallak，Dimitri T. Azar，Jose De La Cruz
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