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使用氩气团簇离子束的OLED材料飞行时间二次离子质谱分析：一种极具前景的OLED检测方法

DOI：10.1016/j.apsusc.2019.144887 期刊：Applied Surface Science 出版年份：2019 更新时间：2025-09-12 10:27:22
摘要： 随着有机发光二极管（OLED）应用日益广泛，其检测分析方法与工具已成为该领域的重要组成部分。本研究采用20千电子伏特氩团簇离子束作为初级粒子，通过飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）分析了四种OLED有机材料。我们将碎片化比率绘制成氩团簇离子尺寸的函数曲线。研究再次证实：具有更低单原子能量的较大氩团簇离子束更有利于检测次级分子离子信号。但4,4′-环己基双[N,N-双(4-甲基苯基)苯胺]（TAPC）的碎片化比率呈现不同趋势。通过扫描团簇离子尺寸并与其他质谱结果对比，我们探究并验证了这种差异的成因。本研究表明，结合团簇离子束的ToF-SIMS技术能有效验证OLED制造过程中可能产生的缺陷。
作者： Ji Young Baek，Chang Min Choi，Sang Ju Lee，Boo Ki Min，Hwa Seung Kang，Dong Chul Choo，Ji Yeong Sung，Jong Sung Jin，Myoung Choul Choi
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研究概述 实验方案 设备清单

研究目的

采用20 keV氩团簇离子束作为初级离子，通过飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）分析四种OLED有机材料，并研究碎片化比率随氩团簇离子尺寸的变化关系。

研究成果

研究表明，结合氩团簇离子枪的飞行时间二次离子质谱法（ToF-SIMS）能有效分析OLED材料并识别生产过程中的缺陷。降低单原子能量有利于观测次级分子离子，而团簇尺寸扫描法有助于区分SIMS电离过程产生的碎片离子与样品中的意外物质。

研究不足

该研究仅限于分析四种特定的OLED材料，并未涵盖OLED生产中使用的全部材料范围。观察到了原材料中杂质对裂解率的影响，但这可能无法代表所有OLED材料的情况。

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