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利用耦合WCIP-反演法获取直接准方形开环频率选择表面构成有效参数

DOI：10.4028/www.scientific.net/DDF.397.187 期刊：Defect and Diffusion Forum 出版年份：2019 更新时间：2025-09-12 10:27:22
摘要： 我们在此提出一种方法，通过结合基于波迭代概念过程法（WCIP）与散射参数反演法，来分析准方形开口环频率选择表面（FSS）的特性。利用WCIP计算准方形开口环FSS的散射参数，并通过解析公式直接计算该频率选择表面可观测的有效本构参数（相对介电常数εreff、磁导率μreff和折射率n）。通过MATLAB程序代码实现所提方法，模拟展示了准方形开口环FSS结构的有效本构参数计算结果。
作者： Saida Mellal，Toufik Ziar，Hichem Farh，Khalid Hati，Badreddine Zemmal，Ilhem Touaibia，Azizi Cherifa，Henri Baudrand
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研究概述 实验方案 设备清单

研究目的

采用基于波迭代概念程序法（WCIP）并结合散射参数反演法的新方法，分析准方形开口环频率选择表面（FSS）的行为并计算其有效本构参数。

研究成果

所提出的方法成功分析了准方形开口环频率选择表面（FSS）的行为，并计算了其有效本构参数。该结构在共振频率附近表现出双负（DNG）超材料特性，这对设计需要负折射率特性的天线至关重要。

研究不足

该研究聚焦于一种特定类型的频率选择表面（FSS）结构，并采用MATLAB仿真，这可能无法捕捉所有现实物理现象。该结构特性受小型化影响的情况也是进一步优化的潜在方向。

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