研究目的
研究开发一种新型绿色荧光粉Ba1.5Lu1.5Al3.5Si1.5O12:Ce3+(BLAS:Ce3+),该材料具有高热发射稳定性,适用于暖白光LED和场发射显示器。
研究成果
该研究成功开发出一种新型绿色荧光粉BLAS:Ce3+,具有高热稳定性和量子效率,适用于暖白光LED和场发射显示器。该荧光粉在高温下展现出优异的发光性能和稳定性,有望成为固态照明与显示系统的理想候选材料。
研究不足
该研究聚焦于BLAS:Ce3+荧光粉的合成与表征,但对合成工艺的可扩展性及荧光粉在实际应用中的长期稳定性讨论有限。
1:实验设计与方法选择:
本研究通过Ba2?-Si??对Lu3?-Al3?对的异价取代,在Lu?Al?O??:Ce3?中合成BLAS:Ce3?荧光粉。采用XRD Rietveld精修、XPS分析、SEM和光致发光光谱分析其结构与发光性能。
2:样品选择与数据来源:
样品由BaCO?、Al?O?、SiO?、Lu?O?和CeO?按化学计量比混合,在刚玉坩埚中加热至1550℃制备而成。
3:实验设备与材料清单:
X'Pert PRO X射线衍射仪、SEM(JSM-6700F)、XPS(赛默飞世尔科技)、紫外-可见-近红外分光光度计(Lambda 950,珀金埃尔默)、荧光分光光度计(FLS-980)、绝对光致发光量子产率测量系统(滨松,Quantaurus-QY plus C13534-31)、积分球光谱辐射计系统(ATA 100,远方光电)。
4:0)、绝对光致发光量子产率测量系统(滨松,Quantaurus-QY plus C13534-31)、积分球光谱辐射计系统(ATA 100,远方光电)。 实验步骤与操作流程:
4. 实验步骤与操作流程:将混合物均匀研磨后加热,随后分析其结构与发光性能。采用该荧光粉与蓝色InGaN芯片制备w-LED器件。
5:数据分析方法:
通过XRD Rietveld精修、XPS、SEM和光致发光光谱分析数据,测定荧光粉的结构与发光性能。
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SEM
JSM-6700F
JEOL
Analyzing the morphologies of the representative BLAS: 0.06Ce3+ sample.
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UV-Vis-NIR spectrophotometer
Lambda 950
Perkin Elmer
Measuring the diffuse refection (DR) spectra ranging from 200 nm to 800 nm of this series of new phosphors.
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Fluorescence spectrophotometer
FLS-980
Edinburgh Instruments
Obtaining the photoluminescence (PL), photoluminescence excitation (PLE), and decay curves of these samples.
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Absolute photoluminescence quantum yield measurement system
Quantaurus-QY plus C13534-31
Hamamatsu
Performing the fluorescence quantum yield test of BLAS:0.06Ce3+.
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X' Pert PRO X-ray diffractometer
Cu Kα, λ = 1.5418 ?
PANalytical
Collecting the powder X-ray diffraction (XRD) patterns of the samples.
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XPS
Thermo fisher Scientific
Determining the chemical states and coordinated conditions of all cations except Ce3+ ion in BLAS: 0.06Ce3+.
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Integrating sphere spectroradiometer system
ATA 100
Everfine
Measuring the photoelectric performance of the as-prepared LED device.
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