研究目的
定量研究基于砷化镓光电导天线(PCA)的时域太赫兹(THz)波探测系统中的噪声功率谱密度(NPSD)。
研究成果
基于LTG GaAs光伏阵列的太赫兹波探测系统中的噪声功率谱被进行了定量研究。光伏阵列噪声与放大器输出端放大器噪声的贡献程度强烈依赖于光伏阵列电阻、电路参数及频率。在中频段会出现低噪声区间。研究认为1/f噪声主要产生于金属与LTG GaAs的接触区域。
研究不足
由于设备精度有限,无法讨论约100 MΩ量级的电阻绝对值。本研究聚焦于包含PCA的检测电路噪声,而非太赫兹脉冲的波动。
1:实验设计与方法选择:
研究使用频谱分析仪测量放大器输出端随频率变化的噪声功率谱密度(NPSD)。将光电导天线(PCA)通过同轴电缆连接至电流放大器。
2:样本选择与数据来源:
采用低温生长(LTG)砷化镓(GaAs)制备的光电导天线,其金属系统分为两种类型:钛/金(Ti/Au)和钯/锗/钛/金(Pd/Ge/Ti/Au)。
3:实验设备与材料清单:
电流放大器(FEMTO LCA-400K-10M)、同轴电缆、频谱分析仪(HP E4401B)、800纳米激光脉冲(Spectra Physics,Maitai)。
4:实验步骤与操作流程:
分别测量光电导天线在激光脉冲照射与无照射条件下的噪声功率谱密度,并测定直流电阻与噪声。
5:数据分析方法:
通过电路模型分析测量的噪声功率谱密度,分离光电导天线噪声与放大器噪声的贡献。
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