研究目的
通过结合稳态、频域和时间域数据来定量分析有机发光二极管(OLED)中的电荷传输。
研究成果
该研究表明,结合稳态、瞬态和阻抗测量对于全面理解OLED器件物理特性至关重要。通过单一组模型参数,实现了对不同层厚多个器件的关键测量数据进行全局拟合。该模拟揭示了器件性能的内在机理,并识别出可能的损耗机制,例如界面处的电荷载流子积累。
研究不足
该研究的局限性在于多层OLED堆叠结构的复杂性,这使得材料参数提取分析公式的应用变得复杂。所提取参数的可靠性取决于互补测量技术的结合以及系统性的层厚变化。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用含天蓝色热激活延迟荧光掺杂材料的多层OLED,运用稳态、频域和时域等多种电光测量技术。
2:样品选择与数据来源:
OLED结构包含分别作为空穴传输层和激子阻挡层的NPB与TCTA材料,TADF发光体混合于mCBP主体材料中,系统调节NPB与NBPhen层的厚度。
3:实验设备与材料清单:
使用一体化测量平台Paios进行统一的电学特性表征。
4:实验流程与操作步骤:
测量项目包括电流-电压-亮度(IVL)、阻抗谱(IS)、瞬态电致发光(TEL)及注入-CELIV法。
5:数据分析方法:
基于一维电荷漂移扩散与激子迁移模型进行全器件模拟分析,材料参数通过拟合实验数据确定。
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