研究目的
研究WOx化学计量值x对空穴选择性接触异质结硅太阳能电池性能的影响。
研究成果
要获得更高的器件性能,需要WOx具有较高的x值和较高的薄膜电导率。最低的x值得到的太阳能电池效率为13.3%。
研究不足
高化学计量比x可能导致薄膜电导率降低,这对填充因子(FF)不利,且WOx/c-Si异质结太阳能电池的效率仍显著低于最先进器件。
1:实验设计与方法选择:
本研究通过模拟分析x对短路电流(Jsc)损失的影响,并采用反应磁控溅射法制备具有空穴选择性WOx接触的WOx/c-Si异质结太阳能电池。
2:样本选择与数据来源:
使用商业直拉法生长的n型c-Si晶圆作为吸光材料。
3:实验设备与材料清单:
直流反应磁控溅射用钨靶、商业直拉法生长n型c-Si晶圆及氢化本征非晶硅层。
4:实验流程与操作步骤:
采用反应磁控溅射沉积WOx薄膜,通过调节O2/Ar气体比例控制WOx化学计量比。
5:数据分析方法:
利用光谱椭偏仪表征WOx薄膜厚度与光学常数,通过量子效率(QE)测试系统测量电池量子效率。
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spectroscopic ellipsometry
VASE?
J. A. Woollam
Characterization of thicknesses and optical constants of WOx films
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programmable electrometer
Keithley 617
Keithley
Measurement of conductivities of the films
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ultraviolet–visible spectrophotometer
Measurement of optical transmittance
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X-ray photoelectron spectroscopy
Measurement of chemical compositions of the WOx films
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QE measurement system
QEX7
Measurement of quantum efficiencies (QE) of the cells
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