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DFT方法对InPS?电子结构及K吸收光谱的影响:光学、热电及弹性性质的详细研究

DOI:10.1088/2053-1591/ab4164 期刊:Materials Research Express 出版年份:2019 更新时间:2025-09-23 15:19:57
摘要: 通过采用GGA、GGA+U、mBJ和mBJ+U势函数在Kohn-Sham框架下研究了交换关联势对InPS4电子结构的影响。全势APW+lo方法中使用mBJ+U能获得可靠的K吸收谱,其包含几乎全部强度正确的实验峰位。1e w^( )与1e w?( )在0 eV、4 eV、6 eV和9.5 eV处出现显著差异,表明InPS4在这些能级具有强各向异性光学特性。在4 eV处,InPS4的光学吸收在至少4-20 eV宽能范围内具有10^5 cm?1量级的高阶数值。优值系数ZT最高达到约0.8-1。当化学势μ介于0 eV至约1.6 eV时InPS4为p型半导体,而μ约1.6-2.7 eV时则为n型半导体。泊松比等于0.26且B/G@1.75。硫代磷酸铟InPS4具有较低的抗变形能力,其杨氏模量和剪切模量分别为38.47 GPa和15.27 GPa。
作者: Tuan V Vu,A A Lavrentyev,B V Gabrelian,Dat D Vo,Hien D Tong,D M Hoat,O Y Khyzhun
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研究概述 实验方案 设备清单

研究交换关联势对InPS4电子结构的影响,并探讨其光学、热电及弹性性质。

mBJ+U方法为InPS4提供了最可靠的电子结构,与实验数据高度吻合。InPS4展现出独特的光学、热电和弹性特性,使其成为光电子应用领域极具前景的材料。

该研究的局限性包括高精度方法(如GW技术)所需的计算成本和时间,以及LDA和GGA方法可能低估带隙的问题。

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