研究目的
研究使用超薄n型氢化纳米晶氧化硅作为背结硅异质结太阳能电池中的电子传输层,以减少前表面寄生吸收并提升电池性能。
研究成果
在超薄nc-SiOx:H(n)电子传输层中引入nc-Si:H(n)接触层或籽晶层,通过降低电子能量势垒和减少前接触电阻率来提升电池性能。采用5纳米nc-SiOx:H(n)与5纳米nc-Si:H(n)双层结构时获得了最佳电池性能,展现了高效SHJ太阳能电池的潜力。
研究不足
该研究聚焦于SHJ太阳能电池中ETL的优化,但未涉及大规模生产中的潜在可扩展性问题,也未探讨电池在实际运行条件下的长期稳定性。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)法沉积nc-SiOx:H(n)薄膜,以替代SHJ太阳能电池中的非晶硅(a-Si:H)(n)电子传输层(ETL),并探究nc-Si:H(n)接触层或籽晶层厚度对电池性能的影响。
2:样品选择与数据来源:
使用厚度为170微米的绒面n型直拉硅片,通过准稳态光电导寿命测量(QSSPC)、外量子效率(EQE)和电流-电压特性(J-V)等技术测量薄膜的光电特性。
3:实验设备与材料清单:
PECVD系统、LOANA太阳能电池分析系统、AFORS-HET模拟器、Quokka 3模拟器、氧化铟锡(ITO)层、丝网印刷用银(Ag)层。
4:实验流程与操作步骤:
依次进行硅片清洗、硅叠层生长、ITO层沉积、银层丝网印刷及退火处理,在标准测试条件下评估电池性能。
5:数据分析方法:
采用AFORS-HET进行能带图模拟,使用Quokka 3进行光学与电学损耗分析。
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获取完整内容-
PECVD system
Deposition of nc-SiOx:H (n) films
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LOANA solar cell analysis system
pv-tools
Measurement of current-voltage characteristics and external quantum efficiency
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AFORS-HET simulator
Simulation of band diagrams
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Quokka 3 simulator
Optical and electrical loss analysis
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Indium tin oxide (ITO) layers
Front contact and anti-reflective layers
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Ag layer
Screen printed for rear side and illuminated side contacts
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