研究目的
研究不同厚度的掺锡氧化铟（ITO）薄膜对光电性能及铜锌锡硫（CZTS）太阳能电池性能的影响。
研究成果
研究表明，厚度为383纳米的ITO薄膜展现出最佳光电性能，从而显著提升了CZTS太阳能电池的性能。该发现为高效CZTS太阳能电池指明了ITO层的最佳厚度范围。
研究不足
该研究仅限于厚度介于50纳米至476纳米之间、并在固定温度180°C下退火的ITO薄膜。未探究其他退火条件或沉积方法的影响。
1：实验设计与方法选择：
研究采用射频磁控溅射法制备了不同厚度（50 nm–476 nm）的ITO薄膜，并在空气氛围中以180°C退火60分钟，随后分析这些薄膜的光电特性。
2：样品选择与数据来源：
ITO薄膜制备于SLG衬底上，通过调节溅射时间控制厚度变化。
3：实验设备与材料清单：
设备包括用于ITO沉积的射频磁控溅射仪、晶体结构分析的X射线衍射仪（XRD）、表面形貌观测的场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）、光学反射率测量的紫外-可见-近红外光谱仪（UV–Vis–NIR）以及电学性能测试的霍尔系统。
4：实验流程与操作步骤：
该过程包含在SLG衬底上溅射ITO层、退火处理，随后对薄膜的结构、光学及电学特性进行表征。所得ITO层进一步应用于CZTS太阳能电池以研究其对性能的影响。
5：数据分析方法：
通过数据分析确定ITO薄膜厚度与光电特性之间的关系，以及CZTS太阳能电池的性能表现。
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