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利用部分填充圆波导的同轴线进行介电常数的宽带测量

DOI:10.1063/1.5136317 期刊:Review of Scientific Instruments 出版年份:2020 更新时间:2025-09-23 15:21:01
摘要: 全波分析法被应用于具有"短路"不连续结构的同轴线(即传输线)。该不连续结构的半径小于或等于同轴线内导体半径。"采样区域"可视为部分填充的圆形波导。这种结构具有很强的实用性,尤其适用于介电谱分析领域。该方法考虑了非均匀场分布——这是微波频段测定高介电常数时的限制因素。通过模式匹配技术求解正问题,获得了复反射系数与圆柱形样品介电常数之间的关系。求解逆问题后,即可从散射矩阵的实验值推导出复介电常数。有限元建模验证了这些结果,并应用于特定材料。两种方法具有极佳的对应关系。本方法特别适合测定超过数千量级的介电常数(适用于任何类型材料),扩展了可靠测定介电常数的频率范围,且无需制备不同几何形状(即表面积和厚度)的样品。
作者: ?arūnas Svirskas,Jūras Banys,D?iugas Jablonskas,Saulius Rudys,Saulius Lapinskas,Robertas Grigalaitis
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研究概述 实验方案 设备清单

通过实施适用于易调整几何结构的全波分析,改进同轴线中材料(尤其是高介电常数材料)的测量方法。

基于模匹配的数学模型与有限元计算结果高度吻合,可在无需不同几何形状样品的情况下扩展可靠介电常数测定的频率范围。该模型在一定频率限制内对圆柱形和方形截面棒材表现良好。

该方法的准确性可能受到矢量网络分析仪误差、实际系统寄生参数以及样品几何形状误差的影响。此外,该模型对于矩形截面杆的适用性仅限于频率不超过共振频率两倍的情况。

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