研究目的
为了展示激光烧蚀技术在系统级封装(SiP)设计中的应用,以克服传统刀片切割技术的局限性,例如毛刺残留、封装形状成型不灵活以及公差控制不精确等问题。
研究成果
皮秒脉冲激光烧蚀技术显著提升了封装成型质量和切割精度控制,消除了毛刺残留和变色效应。该技术可实现灵活的封装形状成型并满足可靠性标准,是5G时代高质量系统级封装(SiP)设计的理想解决方案。
研究不足
该研究聚焦于特定应用(指纹识别、汽车及可穿戴??椋?,可能未涵盖所有潜在的SiP设计方案。比较范围仅限于皮秒脉冲激光、纳秒脉冲激光和传统刀片切割技术。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用皮秒脉冲激光技术进行封装切割与成型,并将其效果与纳秒脉冲激光及传统刀片锯切技术进行对比。
2:样本选择与数据来源:
使用为指纹识别、汽车电子及可穿戴设备应用设计的先进SiP??椴馐猿盗荆═V)。
3:实验设备与材料清单:
配备皮秒脉冲技术的紫外激光器、SiP模块基板。
4:实验流程与操作步骤:
包括通过CCD进行基板装载与对准、激光烧蚀实现封装边缘切割,以及单体分割工艺。
5:数据分析方法:
分析封装外形尺寸、缺陷率及可靠性测试结果。
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