研究目的
研究构建准绝热哈密顿量以精确表征由锥形交叉耦合的从头算确定的绝热电子态(适用于约15个原子体系),并将其应用于具有全部39个自由度的环戊氧基光电子解离过程。
研究成果
该拟合框架成功构建了环戊氧基的耦合1,2 2A势能面,其精度足以描述环戊氧基的光电子脱附过程。未来工作将利用所构建的哈密顿量测定环戊氧基的光电子能谱。
研究不足
对于中等维度的系统而言,训练集极为有限,这使得通过有限数量的几何构型所获取的数据无法饱和呈指数级增长的空间。这一限制要求在曲面拟合过程中引入正则化方法,以解决在采样不足区域中拟合哈密顿量可能出现的不良行为问题。
1:实验设计与方法选择:
该方法通过拟合准绝热哈密顿量来表征从头算绝热电子结构数据(包括能量、能量梯度和能量差缩放导数耦合),其核心在于最小化拟合预测值与绝热表示下从头算数据的差异——该绝热表示在锥形交叉缝处存在奇点。研究定义了通用灵活的优值函数以支持任意表示形式,并提出了一种用于测量电子简并区附近拟合-从头算差异的表示方案。
2:样本选择与数据来源:
训练集基于环戊氧基(C5H9O)从头算确定的绝热电子波函数所获取的能量、能量梯度及能量差缩放导数耦合数据。
3:实验设备与材料清单:
采用的电子结构描述为含单双激发的MRCI方法(MRCISD),并针对氧、碳、氢原子选用特定原子轨道基组。所有电子结构计算均通过COLUMBUS程序套件完成。
4:实验流程与操作规范:
拟合框架包含正则化技术以防止哈密顿量在采样不足区域出现病态行为。算法通过最小化包含优值函数和正则化项的损失函数实现优化。
5:数据分析方法:
通过对比环戊氧基基态极小点与Jahn-Teller鞍点的关键内坐标和谐频参数(与MRCISD计算值对照)来评估拟合哈密顿量的质量。
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