研究目的
研究ZrSiO4:Cr5+晶体中四方晶系(CrO4)3?杂质中心的缺陷结构与g因子。
研究成果
研究表明，ZrSiO4:Cr5+晶体中的四方晶系(CrO4)3?杂质中心主要因Jahn-Teller畸变而呈现四方压缩态，同时由于配体振动的动态效应混入少量第一激发态。这种混入态对解释观测到的g因子至关重要。
研究不足
该研究的局限性在于理论方法以及对动态效应和配体振动导致的状态混合所做的假设。对动态效应及振动运动确切性质的实验验证可提供更确凿的证据。
四方晶系ZrSiO?:Cr??晶体中(CrO?)3?杂质中心的缺陷结构与g因子研究
DOI：10.1080/10420150.2018.1539733
期刊：Radiation Effects and Defects in Solids
出版年份：2018
更新时间：2025-09-23 15:21:01
摘要：
基于双机制（晶体场与电荷转移机制）模型的高阶微扰公式，研究了ZrSiO4:Cr5+晶体中四方相(CrO4)3?杂质中心的EPR g因子g//和g⊥。研究表明：与四方拉长的主体(SiO4)4?四面体不同，取代态(CrO4)3?四面体的主要缺陷结构因Jahn-Teller畸变呈现四方压缩态，其基态为|dz2?。此外，计算值与实验测得的g因子相符需要配体振动使基态|dz2?混入少量第一激发态|dx2?y2?，这使得压缩态的(CrO4)3?四面体呈现闪烁拉长态。对上述结果进行了讨论。
作者：
Min Cheng，Xiao-Xuan Wu
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