研究目的
研究Ba(Ti0.92Sn0.08)O3陶瓷在温度诱导下的相结构演化及其与压电响应的关联,以设计高性能压电材料。
研究成果
系统研究了BTS0.08陶瓷中与温度驱动相变相关的压电性能。在T相到C相转变附近出现了较大的弱场压电性(d33=675 pC/N)。在O-T相边界获得了最高的压电应变系数:dmax33=1170 pm/V、双极d*33=822 pm/V和单极d*33=1318 pm/V。温度驱动相变中压电性能的大幅增强与成分诱导相变相当,为设计具有优异压电性能的相变类型提供了指导。
研究不足
该研究聚焦于Ba(Ti0.92Sn0.08)O3陶瓷的特定组分。其压电性能的温度稳定性及相变附近压电响应增强的机理尚需深入探究。
1:实验设计与方法选择:
采用传统固相合成法制备Ba(Ti0.92Sn0.08)O3陶瓷。将高纯度TiO2、SnO2和BaCO3粉末经球磨、煅烧、压片和烧结处理后,粘贴银电极进行电学测试。极化过程在电场中进行。
2:92Sn08)O3陶瓷。将高纯度TiOSnO2和BaCO3粉末经球磨、煅烧、压片和烧结处理后,粘贴银电极进行电学测试。极化过程在电场中进行。 样品选择与数据来源:
2. 样品选择与数据来源:通过X射线衍射和拉曼光谱分析物相结构;采用场发射扫描电镜(FE-SEM)和透射电镜(TEM)观察微观形貌;使用Berlincourt仪测量压电系数d33;用精密阻抗分析仪测定平面机电耦合系数kp;借助压电测量系统完成各类铁电/压电性能测试。
3:实验设备与材料清单:
X射线衍射仪(D8-2-Advance,德国布鲁克AXS)、拉曼光谱仪(Lab RAM HR Evolution,法国HORIBA JY)、场发射扫描电镜(JSM-7500,日本)、透射电镜(Tecnai G2 F20 S-TWIN)、Berlincourt仪(ZJ-3A,中国)、阻抗分析仪(HP 4294A,美国安捷伦)、压电测量系统(TF Analyzer 2000HS,德国aixACCT系统公司)。
4:实验流程与操作步骤:
样品经制备、烧结后,对其结构、显微组织及压电性能进行表征,同时测试介电性能的温度依赖性。
5:数据分析方法:
通过数据分析研究相变过程及其对压电性能的影响。
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Precision impedance analyzer
HP 4294A
Agilent
Measuring the planar electromechanical coupling coefficient kp
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X-ray diffraction
D8-2-Advance
Bruker AXS
Analyzing the phase structure of the ceramic
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Raman spectrum
Lab RAM HR Evolution
Horiba JY
Measuring the Raman spectrum of the ceramic
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Field emission-scanning electron microscopy
JSM-7500
Japan
Investigating the microstructure of the sintered ceramic
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Transmission electron microscope
Tecnai G2 F20 S-TWIN
TEM observation of the ceramic
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Berlincourt meter
ZJ-3A
China
Characterizing the longitudinal piezoelectric coefficient d33
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Piezo-measurement system
TF Analyzer, 2000HS
aix ACCT Systems GmbH
Employed for various ferroelectric and piezoelectric measurements
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