研究目的
开发一种基于全区域谱k·p/包络函数能带结构模型的自洽程序,用于探索性半导体器件的量子力学模拟,实现自由载流子密度的计算并与静电势达到自洽。
研究成果
基于全区域谱k·p/包络函数模型开发的自洽程序成功实现了半导体器件的量子力学模拟,在器件预测(尤其是小尺寸器件)方面展现出显著影响。该程序凸显了自洽性在精确模拟探索性半导体器件中的量子限制效应和静电势方面的重要性。
研究不足
该研究仅限于弹道输运模拟,未考虑肖克利-里德-霍尔复合机制,这可能导致栅极-漏极欠重叠情况下出现误导性结果。此外,尽管计算效率有所提升,但完整器件模拟仍可能需要大量资源。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用全区域谱k·p/包络函数能带结构模型模拟半导体器件。方法包括在传输边界条件下开发多带包络函数的归一化程序,以及载流子浓度与静电势的自洽求解程序。
2:样本选择与数据来源:
应用聚焦于同质结构In0.53Ga0.47As隧穿场效应晶体管(TFETs)及交错异质结构GaAs0.5Sb0.5/In0.53Ga0.47As TFETs。
3:53Ga47As隧穿场效应晶体管(TFETs)及交错异质结构GaAs5Sb5/In53Ga47As TFETs。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:模拟使用计算资源求解具有传输边界条件的薛定谔-泊松问题。
4:实验流程与操作步骤:
通过泊松方程迭代更新静电势直至达到自洽,采用结合Gummel方法与逐次欠松弛的自适应阻尼方案实现稳定。
5:数据分析方法:
通过不同器件尺寸的转移特性曲线和电流比分析自洽性对器件预测的影响。
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