研究目的
利用X射线拉曼散射光谱研究含锂化合物中K边的q依赖性。
研究成果
该研究提出了一种计算X射线拉曼散射光谱中K边的高效方法，其实验与理论光谱的良好吻合验证了该方法的有效性。此方法为分析超越偶极近似的K边提供了坚实基础，尤其适用于大体系。
研究不足
该研究的局限性在于密度泛函理论（DFT）固有的近似处理，例如对能隙和空态能量的低估。此外，该方法的准确性还取决于对芯空穴效应的正确建模以及初态与末态的正交性。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用密度泛函理论（DFT）框架内的递归方法计算X射线拉曼散射光谱的动态结构因子，无需显式计算高能未占据态。
2：样品选择与数据来源：
使用LiBO?、Li?CO?、Li?O和LiF的粉末样品。
3：实验设备与材料清单：
实验在欧洲同步辐射装置（ESRF）的非弹性散射光束线ID20上进行，结合使用高热负荷Si(111)单色器和Si(311)后置单色器，并通过Kirkpatrick-Baez镜组聚焦。
4：实验步骤与操作流程：
在4.5±0.2 ??1（低q）和8.5±0.1 ??1（高q）的动量转移条件下收集XRS光谱，整体能量分辨率为0.7 eV。
5：5±2 ??1（低q）和5±1 ??1（高q）的动量转移条件下收集XRS光谱，整体能量分辨率为7 eV。 数据分析方法：
5. 数据分析方法：通过递归方法将动态结构因子计算为连分数，并使用XRSTOOLS软件包分析光谱。
独家科研数据包，助您复现前沿成果，加速创新突破
获取完整内容-
Si(111) monochromator
Monochromatizing incident x rays
-
Si(311) post monochromator
Further monochromatizing the x rays
-
Kirkpatrick-Baez mirror assembly
Focusing x rays to a spot size of approximately 50 × 50 μm2 at the sample position
-
Si(660) analyzer crystals
Analyzing scattered x rays for momentum transfers
-
Si(555) analyzer crystals
High-resolution analysis of scattered x rays
-
登录查看剩余3件设备及参数对照表
查看全部
