研究目的
研究原子级薄材料中的基底诱导应变与失配效应，特别以WS2单层作为模型体系。
研究成果
差异分析模型有效量化了原子级薄材料中的衬底诱导应变，通过耦合系数β揭示了失配效应。该方法为理解和优化二维材料在功能系统中的制备与应用奠定了基础。
研究不足
该研究的局限性在于假设了单层-基底体系中应变的一致性，且未考虑单层在基底上可能发生的滑移或重新排列，这可能会影响应变测量的准确性。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用差分分析模型，通过变温拉曼光谱和光致发光（PL）光谱量化WS2单层膜中的基底诱导应变。
2：样本选择与数据来源：
WS2单层膜通过低压化学气相沉积法在SiO2/Si衬底上合成。
3：实验设备与材料清单：
设备包括Jobin-Yvon LabRAM HR Evolution光谱仪、THMSE 600温控台及原子力显微镜（Bruker Dimension Icon）。材料包含WS2单层膜与SiO2/Si衬底。
4：实验流程与操作步骤：
在-196°C至77°C范围内进行变温拉曼/PL实验，利用原子力显微镜和开尔文探针力显微镜（KPFM）研究表面形貌与电势分布。
5：数据分析方法：
通过线性近似和差分分析模型解析拉曼频移，提取表征基底诱导应变的耦合系数β。
独家科研数据包，助您复现前沿成果，加速创新突破
获取完整内容-
AFM
Dimension Icon
Bruker
Used for investigating topographies and surface potential distributions.
-
Jobin-Yvon LabRAM HR Evolution spectrometer
LabRAM HR Evolution
Jobin-Yvon
Used for temperature-dependent Raman/PL experiments.
-
THMSE 600 heating/cooling stage
THMSE 600
Linkam Scientific Instruments
Used for controlling the temperature during Raman/PL experiments.
-
Pt/Ir-coated cantilevers
Used in noncontact mode for AFM and KPFM measurements.
-
登录查看剩余2件设备及参数对照表
查看全部
