研究目的
测量X射线等离子体诊断中弯曲晶体局部的衍射情况，以了解性能变化并识别制造缺陷。
研究成果
使用石英调节晶体的X射线貌相装置为弯曲晶体的局部衍射特性提供了有价值的见解，揭示了制造缺陷和衍射质量的差异。然而，要全面评估晶体在X射线等离子体诊断中的性能，仍需进一步提高辐照质量。
研究不足
辐照并非完全单色且单向，这限制了衍射质量评估的分辨率。该研究聚焦于比预期成像应用中使用的更硬的X射线，可能影响研究结果对较软X射线诊断的相关性。
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利用同步辐射评估X射线成像晶体
DOI：10.1063/1.5045569
期刊：Review of Scientific Instruments
出版年份：2018
更新时间：2025-09-09 09:28:46
摘要：
用于等离子体诊断的弯曲晶体结合了来自整个晶体的衍射X射线。因此，通过分析一维光谱或二维图像中的缺陷，并非是找出特定晶体性能差异原因及应对措施的最佳途径。相反，我们希望以必要的分辨率进行局部衍射测量。事实证明，同步辐射标准X射线光学系统提供的名义上单色且单向的辐射不足以实现这一目的。得益于特制的石英调节晶体，先进光子源X射线光学测试光束线1 - BM的X射线形貌装置提供了质量好得多的辐射。由此，弯曲晶体衍射中一些令人担忧的特征消失了，而细微的制造瑕疵仍清晰可见。
作者：
N. R. Pereira，A. T. Macrander，C. Stoeckl，E. O. Baronova
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