研究目的
研究电场诱导的自旋-轨道耦合对硅中施主束缚电子自旋弛豫的影响,并探索减轻该效应以实现纳米电子器件中体材料极限自旋弛豫时间的方法。
研究成果
研究表明,电场诱导的自旋-轨道耦合可主导硅中施主束缚电子的自旋弛豫,在纳米电子器件中显著缩短自旋寿命(相较于体硅)。通过精确校准外磁场方向,该限制寿命的效应可被消除,从而实现体硅极限的自旋弛豫时间。这一发现对未来量子比特架构设计具有重要启示,并为通过高阶电磁耦合操控自旋开辟了新途径。
研究不足
该研究的局限性在于纳米电子器件的特定条件及外部电磁环境。若未经进一步研究,这些发现可能无法直接适用于其他系统或配置。
1:实验设计与方法选择:
该研究通过改变电场和磁场条件,测量了原子级工程纳米电子器件中单个硅磷(Si:P)施主量子比特的自旋弛豫速率。
2:样本选择与数据来源:
将单个硅磷施主量子比特置于纳米电子器件中,在两个独立的热循环周期内测量其自旋晶格弛豫速率。
3:实验设备与材料清单:
该器件采用扫描隧道显微镜光刻技术在氢终止的硅(001)–2×1表面制备,外延硅封装,并在莱顿无液氦三轴矢量场低温恒温器中测量。
4:实验步骤与操作流程:
通过将外磁场沿不同晶轴方向对齐,并对施主量子比特施加电场,测量自旋晶格弛豫速率。
5:数据分析方法:
提取自旋弛豫速率数据,并与自旋轨道耦合的理论模型进行对比分析。
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