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一种可靠且高效的GaN HEMT小信号参数提取方法

DOI:10.1002/jnm.2540 期刊:International Journal of Numerical Modelling: Electronic Networks, Devices and Fields 出版年份:2018 更新时间:2025-09-23 15:23:52
摘要: 本文提出了一种可靠且高效的氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)小信号模型参数提取方法。通过参数扫描法,首先分别从冷夹断和冷无偏置测量条件下提取外接元件的初始值,随后采用迭代优化算法对外接元件进行优化。这种基于外接元件直接提取法的扫描与迭代结合算法可降低近似误差的影响,使确定的小信号参数值更为可靠。为提高效率,该提取流程已在Matlab程序中实现。研究采用包含16个元件的氮化镓HEMT小信号等效电路模型(SSECM),并通过对比两种不同器件尺寸下0.1 GHz至40 GHz频段的仿真小信号S参数与实测数据,验证了新参数提取方法的有效性。
作者: Yongbo Chen,Bo Yan,Ruimin Xu,Yuehang Xu,Yong Luo,Changsi Wang,Zhang Wen
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研究概述 实验方案 设备清单

开发一种可靠且高效的氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)小信号模型参数提取方法,以减少近似误差并提高精度。

所提出的参数提取方法能有效降低近似误差,提供可靠的小信号参数,并且与器件尺寸具有良好的可扩展性。该方法高效,适用于大信号和噪声建模应用。

该方法依赖于特定的偏置条件和器件类型;可能无法推广至所有氮化镓高电子迁移率晶体管变体或超过40 GHz的更高频段。迭代过程需要计算资源且可能耗时较长。

SCI高频之选
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