研究目的
采用分子动力学（MD）方法模拟铜纳米颗粒墨水的强脉冲光（IPL）烧结过程，计算颈部长大情况，测算电阻率，并与实验结果对比以优化IPL烧结工艺。
研究成果
MD模型有效模拟了烧结过程，初期呈现颈部快速生长和电阻率下降，随后变化趋缓。该模型的温度依赖性电阻率与实验结果高度吻合，表明其可用于优化IPL烧结工艺。
研究不足
该模型仅限于双粒子系统，无法解释实验中观察到的高光强下气泡形成导致的孔隙效应。其假设等温条件，且未模拟包含光相互作用的完整IPL过程。
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强脉冲光烧结过程中铜纳米颗粒电阻率演变的原子尺度模拟
DOI：10.1016/j.physb.2018.11.036
期刊：Physica B: Condensed Matter
出版年份：2019
更新时间：2025-09-23 15:23:52
摘要：
本工作采用分子动力学（MD）方法模拟了铜纳米颗粒墨水的强脉冲光（IPL）烧结过程。首先计算了IPL烧结过程中两个铜纳米颗粒间颈部的尺寸增长，随后将颈部尺寸代入Reimann-Weber公式计算所得电阻率。总体而言，烧结初期观察到电阻率快速下降（由颈部尺寸快速增长所致），随后电阻率逐渐降低。此外，模拟的电阻率温度相关性趋势与实验测量值相符。该MD模型是设计者优化IPL烧结过程的有效工具。
作者：
Lingbin Meng，Yi Zhang，Xuehui Yang，Jing Zhang
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