研究目的
研究甲烷浓度、衬底温度和压力对采用微波等离子体化学气相沉积法在金刚石衬底上沉积金刚石薄膜的成核过程及性能的影响。
研究成果
MPCVD系统成功地在高温(925-950°C)下于金刚石衬底上生长出高质量单晶金刚石薄膜。甲烷浓度显著影响生长速率、粗糙度和纯度,其中5% CH?获得了最高生长速率(5.02 μm/h)和碳含量(87.07%)。表征技术证实了晶体有序性和sp3键合。未来研究可聚焦于优化参数以实现工业应用并降低成本。
研究不足
该研究仅限于特定范围的甲烷浓度(1-5%)、温度(925-950°C)和压力(72-75托)。使用金刚石衬底可能并非对所有应用都具有成本效益,且所需的高温可能会增加运营成本。潜在的优化方案包括探索更广的参数范围或替代衬底。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用微波等离子体化学气相沉积(MPCVD)法制备单晶金刚石薄膜。通过改变甲烷浓度(1-5%)、生长温度(925-950°C)、压力(72-75托)和微波功率(1-2千瓦)等参数,探究其对薄膜生长的影响。
2:样品选择与数据来源:
使用尺寸为4×4×0.5毫米3、4.5×4.5×0.5毫米3和4×4×0.5毫米3的金刚石衬底。沉积前采用双蒸水、异丙醇和丙酮在超声清洗机中进行清洗。
3:5毫米3、5×5×5毫米3和4×4×5毫米3的金刚石衬底。沉积前采用双蒸水、异丙醇和丙酮在超声清洗机中进行清洗。 实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:MPCVD系统(频率=2.45GHz,功率最高2千瓦)、磁控管(SM 745)、红外测温仪(Ircon公司,Modline 5,型号5R-1410000)、气体(纯度99.99%的H?和CH?)、钼衬底架、石英窗。表征设备:XRD(理学Smartlab 9千瓦)、SEM(JEOL JSM-6390)、AFM(数字仪器公司,Nanoscope IV)、拉曼光谱(Horiba Jobin Yvon HR800)、XPS(AXIS Supra,SPM 1600 Kratus分析公司)。
4:45GHz,功率最高2千瓦)、磁控管(SM 745)、红外测温仪(Ircon公司,Modline 5,型号5R-1410000)、气体(纯度99%的H?和CH?)、钼衬底架、石英窗。表征设备:
4. 实验流程与操作步骤:衬底经30托、200瓦氢等离子体处理2小时以清洁表面。沉积过程中在设定温度和压力下改变甲烷浓度(1%、2%、5%)。不同样品的生长时间分别为57、100和198小时。使用红外测温仪监测温度。
5:0)、AFM(数字仪器公司,Nanoscope IV)、拉曼光谱(Horiba Jobin Yvon HR800)、XPS(AXIS Supra,SPM 1600 Kratus分析公司)。 实验流程与操作步骤:
5. 数据分析方法:XRD用于结构分析,SEM用于形貌观察,AFM用于粗糙度计算(均方根值),拉曼光谱用于键合状态分析,XPS用于成分分析。生长速率按厚度除以时间计算。
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获取完整内容-
XRD Diffractometer
Smartlab 9kW
Rigaku
Records X-ray diffraction patterns of deposited films.
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SEM
JSM-6390
JEOL
Investigates surface morphology of diamond films.
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MPCVD system
Not specified
Not specified
Used for depositing diamond thin films via microwave plasma chemical vapor deposition.
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Magnetron
SM 745
Not specified
Generates microwave power for the MPCVD system.
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IR Pyrometer
Modline 5, Model 5R-1410000
Ircon Inc.
Measures substrate temperature during deposition.
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AFM
Nanoscope IV
Digital Instruments
Measures surface roughness of diamond films.
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Raman Spectrometer
HR800
Horiba Jobin Yvon
Analyzes purity and bonding states of films using Raman spectroscopy.
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XPS Spectrometer
AXIS Supra, SPM 1600
Kratus Analytical
Investigates compositional properties of films using X-ray photoelectron spectroscopy.
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