研究目的
研究利用石墨烯降低AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMTs)的热边界电阻和热阻以实现热管理,从而提升器件性能与可靠性。
研究成果
将石墨烯集成到AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管中,使热阻从18.5 K/W显著降低至6.8 K/W,并使峰值温度最高降低46.5%,从而提升了电学性能和器件可靠性。石墨烯既能有效作为层间散热材料,又可作为接触面的热扩散层,展现出其在高功率器件热管理中的潜力。
研究不足
该研究基于模拟模型,可能无法完全反映材料缺陷或制造差异等现实复杂性。为简化起见采用单指器件可能无法准确代表多指器件。关于热参数(如较薄层的恒定值)的假设可能影响准确性。未解决石墨烯在实际器件集成中的挑战。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用基于Silvaco软件的电热特性仿真方法与有限元热分析方法,对比两种结构配置:一种是在GaN与SiC衬底间插入石墨烯以降低热边界电阻,另一种是将石墨烯作为源极接触上方的散热层以提供额外散热通道。
2:样本选择与数据来源:
模型基于单指AlGaN/GaN HEMT结构,其几何参数(如各层厚度)和物理参数(如热导率)均引自文献记载。
3:实验设备与材料清单:
仿真使用Silvaco软件完成,未提及实体设备。材料包括AlGaN、GaN、SiC衬底、SiNx钝化层及石墨烯。
4:实验流程与操作步骤:
仿真通过定义AlGaN-GaN界面热源、设定底部室温条件,分析温度分布与I-V特性,并对含/不含石墨烯的结构进行对比分析。
5:数据分析方法:
采用对比法与图示法分析峰值温度、热阻值,以及电流密度提升和降温改善效果。
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