研究目的
提出一种基于块体二硫化钼层颜色,通过计算反射光谱和色坐标来初步确定其厚度的方法。
研究成果
该方法通过颜色对比实现块状二硫化钼层厚的粗略表征,为采用其他技术进行更精确测量奠定基础。
研究不足
该方法仅提供厚度的初步估算,可能受基底变化和光源光谱的影响。与原子力显微镜(AFM)或拉曼光谱法等方法相比,其准确性有限。
研究目的
提出一种基于块体二硫化钼层颜色,通过计算反射光谱和色坐标来初步确定其厚度的方法。
研究成果
该方法通过颜色对比实现块状二硫化钼层厚的粗略表征,为采用其他技术进行更精确测量奠定基础。
研究不足
该方法仅提供厚度的初步估算,可能受基底变化和光源光谱的影响。与原子力显微镜(AFM)或拉曼光谱法等方法相比,其准确性有限。
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