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[IEEE 2018年第19届电子封装技术国际会议(ICEPT)- 上海(2018.8.8-2018.8.11)] 2018年第19届电子封装技术国际会议(ICEPT)- 一种采用低银焊膏实现ZnO压敏电阻Cu/Al双层电极与引线互连的高性价比高性能组装技术

DOI:10.1109/ICEPT.2018.8480476 出版年份:2018 更新时间:2025-09-23 15:22:29
摘要: 本文详细研究了不同银含量的焊膏在银电极和铜/铝双层电极上的铺展能力,表征了"引线/焊料/电极/氧化锌"接头的力学性能(即剥离力)及微观结构,并分析了采用不同焊膏焊接的氧化锌压敏电阻的电学特性。结果表明:在助焊剂活性适当的条件下,低银含量焊膏在银电极和铜/铝双层电极上展现出与高银含量焊膏相近的铺展能力;焊膏银含量差异对焊点剥离力和氧化锌压敏电阻的浪涌性能影响甚微。高活性焊膏可能导致银电极严重腐蚀并降低焊点剥离力,而低活性焊膏则存在铜/铝双层电极氧化膜清除不充分的问题,导致焊接质量不佳及焊点剥离力下降。采用铜/铝双层电极的氧化锌压敏电阻比银电极产品具有更优异的浪涌性能。
作者: Kai Wang,Guo-Liang Chen,Min-Bo Zhou,Xin-Ping Zhang
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研究概述 实验方案 设备清单

开发一种经济高效且高性能的组装技术,使用低银含量焊膏连接ZnO压敏电阻的Cu/Al双层电极与引线,并评估其润湿能力、机械性能、微观结构及电学特性,与高银含量替代方案进行对比。

采用低银含量焊膏并配以适当助焊剂活性的组装技术具有成本效益,在铺展能力、机械强度和电气性能方面与高银含量焊膏表现相当。关键发现包括:助焊剂活性比银含量更重要——高活性会导致银电极腐蚀,而低活性则造成铜/铝电极氧化层清除不彻底。配备铜/铝电极的氧化锌压敏电阻具有更优的浪涌性能,且所有测试样品均符合行业标准。未来研究可拓展材料体系范围并评估长期耐久性。

该研究仅限于特定焊膏和电极类型;结果可能不适用于其他材料。Cu/Al电极的电弧喷涂工艺会引入表面粗糙度和氧化层,可能影响可焊性。助焊剂活性是关键因素,但最佳水平可能因不同配方而异。长期可靠性及环境因素未作评估。

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