研究目的
开发一种基于AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的高灵敏度、高选择性镉离子(Cd2+)水溶液传感器,通过巯基丙酸(MPA)和谷胱甘肽(GSH)功能化修饰,实现快速响应、低检测限及恶劣环境适用性。
研究成果
MPA-GSH功能化的AlGaN/GaN HEMT传感器成功实现了对Cd2+离子的高灵敏度检测(0.241 μA/ppb),响应时间快(约3秒),检测限低(0.255 ppb),低于世界卫生组织标准。该传感器具有良好的选择性,尽管某些金属存在轻微干扰。该传感器有望在各种环境中实现实时、高效的检测,未来工作可扩展至其他重金属离子。
研究不足
该传感器因Cu2+、Hg2+和Pb2+离子对功能化层具有亲和力而显示出一定干扰。检测性能可能随pH值变化,在pH 7时灵敏度最佳。本研究仅限于实验室条件,实际环境应用可能需要进一步验证。
1:实验设计与方法选择:
本研究通过在栅极区域修饰MPA和GSH功能化的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)传感器来检测Cd2+离子。该设计利用二维电子气(2DEG)对表面电荷变化的敏感性。
2:样品选择与数据来源:
使用醋酸铵缓冲液配制浓度范围为0.2 ppb至10 ppm的Cd2+离子溶液。同时测试其他重金属离子(Cr3+、Cu2+、Hg2+、Ni2+、Pb2+、Zn2+)以评估选择性。
3:2 ppb至10 ppm的Cd2+离子溶液。同时测试其他重金属离子(Cr3+、Cu2+、Hg2+、Ni2+、Pb2+、Zn2+)以评估选择性。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:设备包括Keithley-4200半导体特性分析系统、金属沉积用热蒸发系统、Si3N4钝化用溅射系统以及外延生长用MOCVD系统。材料包含硅衬底AlGaN/GaN HEMT结构、金属(Al、Cr、Au、Ni)、化学试剂(MPA、GSH、EDC、NHS、MES缓冲液、各类金属盐)及去离子水。
4:实验流程与操作步骤:
制备具有源/漏/栅极接触的HEMT器件,经MPA和GSH功能化后,在栅极暴露于离子溶液时进行电学测量(漏极电流-电压特性),并测定响应时间、灵敏度及选择性。
5:数据分析方法:
采用漏极电流方程、检测限(3σ法)及归一化电流选择性指标进行数据分析,计算标准偏差和线性回归等统计参数。
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