研究目的
通过将电子划分为二维和三维群体来研究纳米级MOSFET沟道中的电子输运,以降低计算成本,重点在于严格处理这些群体之间的散射机制。
研究成果
改进后的模型为MOSFET中二维-三维电子气耦合提供了一种计算可行的方法,确保了电荷守恒并包含所有主要散射机制。该模型解决了先前模型的局限性,适用于器件模拟中的域分解策略。
研究不足
该模型需要数值解和近似方法,例如采用MEP进行闭合处理及散射积分的求解。计算成本较高,尤其是评估散射率中的矩阵元时。参数(如tQ(量子区厚度))的确定可能需要进行初步模拟。
1:实验设计与方法选择:
该研究采用域分解策略,对器件部分区域进行量子力学处理,部分区域采用半经典处理。通过最大熵原理(MEP)为源自二维和三维电子气玻尔兹曼方程的流体力学模型建立闭合关系。
2:样本选择与数据来源:
模型应用于沟道长度数十纳米的MOSFET器件,半导体材料为硅。
3:实验设备与材料清单:
未提及具体实验设备;本文为理论计算研究。
4:实验流程与操作步骤:
方法包括求解子能带的薛定谔-泊松系统、电子输运的玻尔兹曼方程以及通过MEP闭合的矩方程。隐含数值模拟但未详述。
5:数据分析方法:
分析包括评估散射率、产生项及数值求解方程,参数取自文中表格。
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