研究目的
通过阴极发光（CL）、透射电子显微镜（TEM）和电子背散射衍射（EBSD）研究IaB型钻石乳白色外观的光学与结构特性，以探究其成因。
研究成果
IaB型钻石的乳白色外观归因于位错环（导致朦胧区域）、含有压缩δ-N2相的负晶纳米包裹体（导致云雾区域）以及具有放射状纤维晶体的多晶质结构（类似于黑金刚石）。这些特征散射光线，从而产生乳浊效果，并为钻石形成过程提供线索，包括深部地幔来源和快速生长条件。
研究不足
该研究仅限于IaB型钻石，其发现可能不适用于其他类型的钻石。位错环和纳米包裹体对光散射的精确机制尚未完全量化，且样本量受限于现有提交样品，可能无法涵盖所有乳白色钻石的变化情况。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用阴极发光（CL）、透射电子显微镜（TEM）和电子背散射衍射（EBSD）分析乳浊型IaB钻石的结构与光学特性。CL用于成像发光特征，TEM用于高分辨率结构分析及位错与纳米包裹体鉴定，EBSD用于微织构与晶体取向分析。
2：样品选择与数据来源：
样品采集自GIA实验室送检的钻石（包括切磨与原石），选取6颗切割为薄片进行详细研究。所有样品均为典型乳浊型IaB钻石，具有雾状或云状区域。
3：实验设备与材料清单：
设备包括配备CL系统的蔡司EVO MA10扫描电镜、JEOL JEM-2100F与JEOL 2100F透射电镜、带EBSD探测器的JEOL JSM-7000F场发射扫描电镜，以及用于制备TEM箔片的JEOL JEM-9310FIB聚焦离子束系统。材料包含钻石样品及清洗剂（盐酸与硝酸钠混合液）。
4：实验流程与操作步骤：
样品经清洗后制备为薄片。通过设定特定电压电流参数的SEM进行CL成像。TEM箔片采用FIB铣削制备，并通过TEM进行明场、暗场及高分辨成像分析。EBSD分析包含样品镀膜、取向图绘制及指定参数下的数据采集。
5：数据分析方法：
数据分析包括对高分辨透射电镜（HRTEM）衍射图案进行快速傅里叶变换（FFT）、使用EBSD软件（Channel 5.0）生成取向图与极图，以及综合解读CL、TEM与EBSD结果以确定导致乳浊的结构特征。
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Scanning Electron Microscope
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