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European Microscopy Congress 2016: Proceedings || Quantitative measurement of doping and surface charge in a ZnO nanowire using in-situ biasing and off-axis electron holography

DOI：10.1002/9783527808465.EMC2016.5916 出版年份：2016 更新时间：2025-09-11 14:15:04
摘要： The measurement of doping and surface charge in a Zn2N3 nanowire using in-situ biasing and off-axis electron holography
作者： Martin den Hertog，Jean-Luc Rouviere，Robert McLeod，Eva Monroy，Julien Pernot
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研究概述 实验方案 设备清单

研究目的

Investigating the doping and surface charge properties of Zn2N3 nanowires using in-situ biasing and off-axis electron holography.

研究成果

The study successfully demonstrated the use of in-situ biasing and off-axis electron holography to measure doping and surface charge in Zn2N3 nanowires, providing insights into their optoelectronic properties.

研究不足

The technique is limited by the resolution of the electron microscope and the stability of the in-situ biasing setup.

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