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受准静态噪声主动解耦的驱动电子自旋量子比特的相干性
摘要: 半导体量子点中电子自旋量子比特的相干性主要受低频噪声影响。过去十年间,人们通过材料工程努力抑制此类噪声,使静止量子比特的自旋退相位时间显著延长。然而,决定控制保真度的自旋操控过程中的环境噪声作用尚不明确。我们展示了一种电子自旋量子比特,其受驱动演化过程中的相干性主要受高频电荷噪声限制,而非任何半导体器件固有的准静态噪声。我们采用反馈控制技术主动抑制后者,在砷化镓量子点中实现了高达99.04±0.23%的π翻转门保真度。研究表明,受驱动演化相干性受拉比频率处纵向噪声限制,其频谱与同位素纯化硅量子比特中观测到的1/f噪声相似。
关键词: 砷化镓量子点、低频噪声、拉比频率、1/f噪声、半导体量子点、π翻转门保真度、同位素纯化硅量子比特、反馈控制技术、高频电荷噪声、电子自旋量子比特
更新于2025-09-19 17:13:59