[IEEE第34届微电子技术与器件研讨会(SBMicro) - 巴西圣保罗(2019年8月26日-8月30日)] 2019年第34届微电子技术与器件研讨会(SBMicro) - 利用基座波导分析测量SiO_xN_y的非线性折射率

摘要： 多年来，媒体上关于数据泄露事件的报道层出不穷。为应对这一威胁，各组织采用企业内容感知型数据防泄漏（DLP）解决方案来监控和控制数据的访问与使用。但本文认为现有方案无法可靠?；ば畔⒆什６?014年报告的数据泄露事件分析显示，大量数据泄漏事件并不在DLP解决方案的关注范围内。此外，这些分析表明当前提供的数据泄露记录分类标准不足以支撑深入调查。因此，研究引入了表征数据泄漏事件的进阶标准，并扩展了报告记录范围。最终分析表明：要降低技术性数据泄露风险，DLP和信息泄漏防护（ILP）需要建立多种信息安全（IS）措施。同时，DLP和ILP措施的有效性显著受到非技术因素（如人为因素）的影响。为此，本文提出了在信息安全范畴内构建DLP和ILP体系的实施概念。