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外延生长 || 具有较高晶格失配的InGaAs光电探测器的外延生长与器件特性
摘要: 本章回顾了我们关于截止波长>1.7 μm的波长扩展型InGaAs光电探测器的研究工作。通过气源分子束外延技术在InP和GaAs衬底上生长了多种InGaAs/InAlAs p-i-n异质结结构,介绍了InGaAs光电探测器结构及线性、阶梯式和一步连续InAlAs渐变缓冲层等形变相缓冲层技术,以及组分过冲和数字合金等位错抑制方法。通过原子力显微镜、高分辨X射线衍射与倒易空间映射、截面透射电子显微镜和电流-电压测试等手段评估了材料特性和器件性能。这些结果为晶格失配材料体系上形变器件结构的发展提供了线索。
关键词: 光电探测器、X射线衍射、铟镓砷、变态(晶格匹配度调整的)、原子力显微镜、光致发光、晶格失配
更新于2025-09-11 14:15:04
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聚醚醚酮(PEEK)的真空紫外处理作为结构胶粘接的表面预处理方法
摘要: 聚醚醚酮(PEEK)因其润湿性差和粘附性能不佳而著称。因此,要制造可靠的高强度结构胶接接头,必须对PEEK进行表面处理。本研究通过真空紫外(VUV)处理获得了高强度可胶接的PEEK表面。将非晶态和半结晶态PEEK薄膜样品置于不同剂量的VUV辐射下处理,并额外研究了低压氧等离子体(LPP)处理样品及未处理(原始状态)PEEK样品作为对比。采用X射线光电子能谱(XPS)、接触角测量(CA)、原子力显微镜(AFM)和共聚焦激光扫描显微镜(CLSM)对表面进行表征。通过拉伸测试考察VUV辐照对PEEK薄膜本体力学性能的影响。采用两种测试方法(拉伸和剪切)测定处理试样的胶接强度,并将这些强度与所形成的表面特性进行对比。研究发现接触角与官能团生成之间存在显著相关性。VUV辐射显示出作为PEEK预处理方法的适用性——仅需5秒辐照即可实现高强度胶接。此外,VUV准分子灯具有操作简便、成本低廉且易于自动化的优势。
关键词: X射线光电子能谱、真空紫外(VUV)、接触角、化学表面功能化、结构胶粘接、聚醚醚酮(PEEK)、原子力显微镜
更新于2025-09-11 14:12:44
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超导双层(铝/钛)过渡边缘传感器测辐射热计阵列的制备与表征
摘要: 基于氮化硅衬底上铝/钛双层结构实现热连接的四乘四过渡边缘传感器(TES)测辐射热计阵列已完成制备与表征,其无偏置转变温度为1.2开尔文。X射线衍射分析证实该铝/钛双层形成了四方晶系结构。原子力显微镜测得3.11纳米的表面粗糙度相较颗粒尺寸(19.66纳米)可忽略不计,表明表面平整。电阻-温度(R-T)曲线的平滑度与双层传感器表面光洁度相对应,悬空双层TES的超导转变曲线设计为偏置临界温度0.45开尔文且ΔTc=2毫开尔文。此类TES测辐射热计阵列适用于天文观测,广泛用于宇宙微波背景极化探测。
关键词: 原子力显微镜、传感器、测辐射热计、X射线衍射仪、超导隧道结探测器
更新于2025-09-10 09:29:36
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离子辐照后金红石相TiO?(110)表面演化的动力学研究
摘要: 本文研究了60 keV Ar+离子作用下TiO2表面的演化动力学。通过动态标度假设、高度-高度关联(HHC)模型和功率谱密度(PSD)模型分析了生长机制。表面在非平衡生长过程中形成,并观察到三个独立的演化阶段:早期生长表现为粗糙度指数α~0.72-0.74和生长指数β~0.3,同时存在符合爱德华-威尔金森(EW)生长标度的扩散主导特征;随后阶段因溅射诱导的纳米结构化引发非局域不稳定性,导致β值升高并出现快速表面粗化;最终阶段表面粗糙度趋于饱和。
关键词: 高度-高度相关性,二氧化钛,功率谱密度,原子力显微镜
更新于2025-09-10 09:29:36
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《AIP会议论文集》[作者 国际创新材料科学应用会议:ICIMA-2018 - 印度泰米尔纳德邦(2018年9月27-28日)] - 化学气相沉积法制备多孔硅中氧化锌厚度层对其性能的影响
摘要: 我们报道了采用电化学蚀刻(ECE)技术制备多孔硅,并通过化学气相沉积(CVD)在其表面生长氧化锌纳米颗粒层(P型)的相关特性。X射线衍射对晶体结构的研究表明,氧化锌薄膜对多孔硅的结构性能具有积极影响。此外,随着氧化锌层厚度增加,这些性能得到进一步提升?;谠恿ο晕⒕担ˋFM)和扫描电子显微镜(SEM)的测量,我们研究了ZnO/PSi的形貌特性。结果显示,随着氧化锌薄膜的晶体生长,多孔硅基板的结构稳定性得到改善。同时观察到,当多孔硅表面的氧化锌薄膜增厚时,其粗糙度(RMS)值也随之增大。所有结果表明,通过CVD技术制备的氧化锌薄膜具有良好的均匀性。最后可以明确,多孔硅基板能够为提升六方晶系氧化锌薄膜的结晶质量创造条件,这可能归因于多孔硅的海绵状结构特性。
关键词: 氧化锌、多孔硅、扫描电子显微镜、化学气相沉积、原子力显微镜、电化学蚀刻、X射线衍射
更新于2025-09-10 09:29:36
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[IEEE 2018精密电磁测量会议(CPEM 2018)- 法国巴黎(2018年7月8日-2018年7月13日)] 2018年精密电磁测量会议(CPEM 2018)- 扫描微波显微镜的计量挑战
摘要: 我们展示了一种基于原子力显微镜(AFM)的近场扫描显微技术(NSOM),用于表征高介电常数材料。该NSOM通过近场微波显微镜测量高介电常数材料的介电常数,其核心是一个带有尖锐探针的悬臂,用于扫描样品表面。微波信号被施加到探针上,反射信号由微波探测器检测。通过分析反射信号的相位移来确定样品的介电常数。这种NSOM能以高空间分辨率测量材料的介电常数,已成功用于测量BaTiO3、SrTiO3和Pb(Zr,Ti)O3等高介电常数材料的介电性能,实现了高精度和高空间分辨率的测量。
关键词: 介电常数,高介电常数材料,微波,原子力显微镜,近场扫描光学显微镜
更新于2025-09-10 09:29:36
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[2018年IEEE精密电磁测量会议(CPEM 2018)- 法国巴黎(2018年7月8日-7月13日)] 2018年精密电磁测量会议(CPEM 2018)- 铁电薄膜中残余极化电荷的纳米级精确测量
摘要: 提出了一种在纳米尺度下测量铁电薄膜剩余极化电荷的方法。该方法基于原子力显微镜的电流测量,并引入电容校正以从噪声中提取信号——该噪声比待测信号高出数个数量级。在PbZrTiO3薄膜上成功测得4.2飞库仑的剩余电荷,并提出了降低噪声的解决方案。
关键词: 铁电材料、剩余极化、纳米级电流测量、原子力显微镜
更新于2025-09-10 09:29:36
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分子与细胞生物学中的原子力显微镜 || 基于AFM和NSOM/QD的单细胞水平直接分子可视化技术
摘要: 细胞表面分子(如受体)在调控许多重要细胞过程(包括细胞黏附、组织发育、细胞通讯、炎症反应、肿瘤转移和微生物感染)中发挥着关键作用。特别是这些过程通常涉及纳米尺度上的多分子相互作用,如何在细胞与分子生物学领域实现细胞表面分子分布与排列的成像已成为日益迫切的需求。通过结合原子力显微镜(AFM)、近场扫描显微镜(NSOM)和量子点(QD)标记技术,我们构建了一种新型基于AFM与NSOM/QD的双色纳米级成像系统,可直接观测细胞膜表面这些分子的分布与组织结构。该技术将为单细胞水平的直接分子可视化提供强大工具。
关键词: 近场扫描光学显微镜(NSOM)、纳米级成像、原子力显微镜(AFM)、细胞表面分子、量子点(QD)
更新于2025-09-10 09:29:36
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一种新型显微镜平台能否有助于改善临床结果?
摘要: 下一代测序技术(NGS),也被称为"第二代测序",开创了测序成本急剧下降的时代,这使得遗传多样性、变异、转录和表观遗传学等领域的研究取得了快速进展。在临床领域,NGS催生了精准医学(PM)或个性化医学的梦想——通过测序每位患者(或潜在患者)的基因组,并基于其遗传密码、生活方式和环境制定最优治疗方案。尽管取得了这些成果和希望,但NGS受限于短读长技术和每位患者的检测成本,而精准医学尚未展现出变革性影响,目前仅有一小部分美国患者接受基于基因组信息的疗法。要让精准医学成为标准治疗手段,迫切需要快速、廉价且可靠的基因诊断技术来补充现有技术。我们推出了一种新型高速原子力显微镜"纳米图谱"平台以应对这一挑战。
关键词: 纳米技术、原子力显微镜、DNA测序、基因组学
更新于2025-09-10 09:29:36
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利用E. camaldulensis叶提取物进行银纳米粒子的植物合成及其表征
摘要: 本文报道了一种利用赤桉叶浸提液还原水溶性银盐溶液的绿色简易合成银纳米颗粒(Ag NPs)的方法。通过紫外-可见分光光度计、X射线衍射仪、原子力显微镜、能量色散X射线光谱仪和扫描电子显微镜对合成的银纳米颗粒进行了表征分析。紫外-可见光谱显示银纳米颗粒的表面等离子体共振峰出现在425 nm处。XRD研究明确证实了合成纳米颗粒的晶体特性。EDX分析揭示了合成Ag NPs的有序无机组成成分。原子力显微镜观测呈现了纳米颗粒的三维表面形貌。扫描电镜图像显示银纳米颗?;境是蛐危骄本斗段?10-250纳米。
关键词: 赤桉,扫描电子显微镜,原子力显微镜,紫外-可见分光光度法,X射线衍射,银纳米颗粒
更新于2025-09-10 09:29:36