胶体量子点的光致发光衰减：可逆捕获及相关陷阱态的本质

摘要： 界面是决定胶体量子点（QDs）特性的关键因素，尤其是这些材料特有的尺寸依赖性光学性质。然而，即使是研究最深入的II-VI族量子点，其纳米晶光致发光（PL）衰减动力学与量子点相关界面的作用仍未完全阐明。特别需要指出的是，界面是陷阱位点的温床——控制这些陷阱对量子点器件的高效性能至关重要，因为陷阱会影响PL寿命并可能导致PL间歇现象。本研究分析了滴涂法制备的CdSe/ZnS量子点薄膜在室温下的PL衰减特性，通过改变多种因素（旋涂溶剂、封端配体、核壳界面特性）进行探究。我们证明：采用包含物理意义明确参数（时间常数、俘获/释放速率常数及每个量子点的平均陷阱数量）的可逆载流子俘获函数，能够获取与这些电荷载流子复合过程相关的关键界面信息，进而揭示陷阱态的本质。该方法适用于多种组分的量子点，也可推广至无机半导体之外的材料体系。