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材料科学与工程参考?？?|| 超分辨率荧光显微镜
摘要： 显微镜超分辨率技术多年来一直吸引着研究人员。突破看似根本性的极限始终是个挑战。自2014年诺贝尔化学奖授予受激发射损耗（STED）显微镜和定位显微镜以来，人们持续改进这些技术，例如通过降低样本辐射暴露。超分辨率这一术语指的是突破经典分辨率极限，该极限通常以阿贝分辨率极限或瑞利两点分辨率判据来定义。这两个指标都很可靠，尤其是阿贝极限提供了一个只能通过根本性新方法（几乎像"技巧"）才能突破的硬性限制。瑞利认识到他的判据具有任意性，但认为其足够可靠。该判据最初针对自发光物体的非相干成像定义，后来其适用范围扩展到相干和部分相干系统，再延伸至共聚焦显微镜及其他技术发展。这通常通过所谓的"广义瑞利分辨率判据"实现：当两点间中点图像强度为该点自身强度的0.735倍时，即视为刚好可分辨。研究发现，在此数值附近，两点间距的微小变化会导致图像对比度快速改变。
关键词： 阿贝分辨率极限、瑞利判据、定位显微技术、受激发射损耗、超分辨率、显微镜技术
更新于2025-09-23 15:21:01
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采用图案化照明的双倍精度定位显微镜技术
摘要： MINFLUX在单分子定位精度上实现了突破性进展，但视场范围有限。本研究在常规宽场成像系统中结合质心估算与照明模式诱导的光子计数变化，从而在典型微米级视场范围内提取位置信息。通过DNA-PAINT和STORM成像技术，我们在DNA折纸纳米结构和细胞内微管蛋白上证明：相同光子数条件下，该方法的定位精度较标准定位技术提升近两倍。
关键词： DNA折纸术、DNA-PAINT技术、图案化照明、微管蛋白、随机光学重建显微镜（STORM）、定位显微技术
更新于2025-09-12 10:27:22