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采用第一性原理计算研究不同钴(Co)浓度下金红石多型体CoxTi1-xO2超胞的电子性质和磁化强度
摘要: 采用第一性原理计算研究了不同钴浓度下CoxTi1-xO2的电子性质和磁化强度。当钴浓度为0.0%时,CoxTi1-xO2的平衡晶格常数约为4.81?,该值略大于实验值。计算得出0.0%钴浓度下的带隙为3.0 eV,与其他报道一致;16.6%浓度时带隙为0.5 eV,33.3%时为0.1 eV,50.0%时接近0.0 eV。随着钴浓度增加,CoxTi1-xO2的计算带隙逐渐减小。钴浓度为0.0%时磁化强度为零,50.0%时达到3.36玻尔磁子/晶胞。在16.6%和33.3%钴浓度下,自旋向上与向下的态密度分布对称;而50.0%浓度时态密度呈现不对称性,表明具有铁磁性。
关键词: 能带结构、磁化强度、平衡晶格常数、密度泛函理论(DFT)、态密度(DOS)
更新于2025-09-23 15:21:01