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oe1(光电查) - 科学论文

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  • 《AIP会议论文集》[作者：SolarPACES 2017：国际聚光太阳能与化学能源系统会议——智利圣地亚哥（2017年9月26-29日）] - 碳钛多层薄膜：合成与表征

    摘要： 采用热阴极真空电?。═VA）法在硅基底上制备了碳-钛（C-Ti）多层薄膜。涂层由低蒸发速率沉积的约100纳米碳基底层构成，随后在其上方交替沉积七组碳钛层，每层最终厚度达40纳米。本研究通过改变基底温度（0℃至300℃）和施加负偏压（0V至-700V）获得不同批次样品。利用透射电镜（TEM）、扫描电镜（SEM）、扫描透射电镜（STEM）及拉曼光谱技术表征了C-Ti多层结构的微观特性。摩擦学测量结果与Ti/C界面原子扩散过程相关。通过测量电阻随温度变化评估了导电性能。

    关键词： Ti/C多层膜、TVA、扫描透射电子显微镜（STEM）、摩擦学性能、扫描电子显微镜（SEM）、能量色散X射线光谱（EDX）、拉曼光谱、电学性能、透射电子显微镜（TEM）

    更新于2025-09-09 09:28:46

  • 利用会聚束电子衍射对KNbO?铁电立方顺电相的纳米尺度局域结构研究

    摘要： 利用纳米尺寸电子探针的会聚束电子衍射（CBED）技术，研究了铌酸钾（KNbO3）顺电立方相的纳米尺度局域结构。在KNbO3立方相的纳米尺度区域内，直接观测到了立方对称性的破缺现象，这表明立方相中存在局域极化团簇。通过结合扫描透射电子显微镜（STEM）与CBED（STEM-CBED）技术，给出了不同温度下四重旋转对称性破缺指数图谱。? 2017 日本应用物理学会

    关键词： 局部极化团簇、会聚束电子衍射（CBED）、扫描透射电子显微镜（STEM）、铌酸钾（KNbO3）、对称性破缺

    更新于2025-09-09 09:28:46

  • 2016年欧洲显微镜学大会：会议录 || 使用分段探测器进行原子级分辨率的扫描透射电子显微镜成像

    摘要： 在扫描透射电子显微镜（STEM）中，采用分段探测器对原子列成像的技术已发展用于可视化晶体中的局部电场。该成像技术基于微分相位衬度（DPC）方法，通过检测电子束因电场产生的偏转来实现。DPC方法已应用于多种材料，包括半导体、金属和绝缘体。本研究展示了利用分段探测器对SrTiO3晶体中原子列的成像效果，原子列清晰可辨且局部电场得到可视化呈现。结果表明，DPC方法是研究材料原子尺度电场的强有力工具。

    关键词： 原子柱、电场、分段探测器、扫描透射电子显微镜、差分相位对比

    更新于2025-09-09 09:28:46

  • 氧掺杂对PVD-CdS/Cu(InGa)Se?异质结元素互混的影响

    摘要： 在薄膜光伏器件中，CdS/CuIn1?xGaxSe2（CIGS）异质结处的元素相互扩散对载流子分离及器件效率起着关键作用。通过结合扫描透射电子显微镜与能量色散X射线能谱分析，我们发现：在CdS的物理气相沉积（PVD）过程中调控溅射气体中的氧含量，可精确控制元素互扩散程度。高氧环境会抑制铜从CIGS向CdS迁移，同时促进锌从ZnO透明接触层向CdS掺杂；极高氧含量会导致CdS形成纳米晶结构，而中等或无氧条件则能实现CdS在CIGS晶粒上的完全外延生长。当CdS沉积过程完全无氧时，在富铜的CdCuS区域中观察到立方相Cu2S的形成。在光电转换效率最高的工艺记录样品（中等O2含量）中，我们观测到约26纳米厚的缺铜CIGS表面层——该层在所有样品中具有最高的镉掺杂浓度。对于高氧或零氧处理的样品，镉向CIGS中的扩散深度均小于10纳米。这些结果与预期一致：即CIGS表面的镉掺杂及锌向缓冲层的扩散抑制，均能有效提升器件性能。

    关键词： 扫描透射电子显微镜、铜扩散、铜铟镓硒光伏技术、硫化镉结构、扫描透射电子显微镜-能量色散X射线光谱元素分布图

    更新于2025-09-04 15:30:14

  • 用于扫描透射电子显微镜-能量色散X射线光谱系统的X射线TES探测器头组件及其性能

    摘要： 设计、制造并测试了一种用于扫描透射电子显微镜（STEM）的能量色散X射线光谱仪（EDS）探测器头。该探测器头搭载了64像素的TES X射线微热量计和64路SQUID阵列放大器（SAAs），整体冷却至约100毫开尔文。探测器头主体为横截面积约1平方厘米、长度10厘米的铜棒，底部设有3立方厘米的立方结构。TES微热量计安装在铜棒顶端，SAAs则分布于立方结构的四个侧面。为减少键合线数量，SAAs采用倒装芯片键合技术。针对SAAs芯片与安装面线性热膨胀系数差异导致的键合应力问题，我们将SAAs及连接室温电子器件的连接器集成于蓝宝石电路板，并通过超导倒装芯片键合技术进行安装。随后将TES与蓝宝石电路板共同固定于铜棒上，通过铝制键合线将其与铜棒多面体表面制作的超导印刷电路连接。此举将键合线数量从768根降至256根。倒装芯片键合良率虽非完美但保持较高水平。将该探测器头安装至STEM EDS系统后，确认其能量分辨率与计数性能达到要求（能量分辨率ΔE<10电子伏特，计数率5千计数/秒）。

    关键词： EDS、TES、超导倒装芯片键合、扫描透射电子显微镜（STEM）

    更新于2025-09-04 15:30:14

  • 《成像与电子物理进展》|| 氮化铝/氮化镓及铟铝氮/氮化镓分布式布拉格反射镜

    摘要： 本章对两种由周期性堆叠的III族氮化物层构成的分布式布拉格反射器（DBR）多层异质结构进行了高分辨率单色化扫描透射电子显微镜-电子能量损失谱（STEM-EELS）表征。这些异质结构由马德里理工大学光电子系统与微技术研究所（ISOM）E. Calleja团队生长，其中一种DBR由AlN和GaN层交替堆叠构成，另一种则采用与GaN晶格匹配的InAlN材料。通过亚纳米空间分辨率和<200 meV能量分辨率的EELS技术评估了结构的电学特性。采用零损耗峰（ZLP）扣除与解卷积方法处理EELS信号，并结合电子散射分布的理论模型进行非线性拟合分析?；诖?，利用对数比值公式计算与电子非弹性平均自由程相关的相对厚度。同时采用洛伦兹模型和德鲁德自由电子模型对体等离子体峰进行拟合——如前所述，在III族氮化物合金中，该峰的能量位置可通过维加德定律关联化学成分变化；而在德鲁德等离子体模型框架下，材料结构特性信息可从振荡寿命中获取。通过实验与模拟的高角环形暗?。℉AADF）图像进一步补充了这些层的结构与化学表征。最终运用克拉默斯-克勒尼希分析提取了材料的介电响应信息。本研究结果显著深化了对这些结构电光特性宏观表征的既有认知。

    关键词： 氮化铝/氮化镓，铟铝氮/氮化镓，克拉默斯-克勒尼希分析，扫描透射电子显微镜-电子能量损失谱，维加德定律，等离子体峰，分布布拉格反射镜

    更新于2025-09-04 15:30:14