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oe1(光电查) - 科学论文

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  • 用于铬钼钢SCM440裂纹扩展末期研究的三维扫描霍尔探针显微镜技术

    摘要: 应力集中区域周围的裂纹扩展会导致疲劳失效。在结构破坏前,必须采用无损检测方法监测其疲劳状态。我们重点研究了用于监测裂纹生长的磁无损评估技术。为明确裂纹扩展与磁通密度变化的关系,利用扫描霍尔探针显微镜(SHPM)观测了工具钢(SCM440)试板裂纹周围正负磁通密度分布的位置变化。研究发现:随着裂纹扩展,三维磁通密度的垂直分量会发生位移;此外,在试样即将断裂前,会出现与拉应力方向平行的磁分量。

    关键词: 裂纹扩展,扫描霍尔探针显微镜,磁通密度

    更新于2025-09-23 15:22:29