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[2018年IEEE精密电磁测量会议（CPEM 2018）- 法国巴黎（2018年7月8日-13日）] 2018年精密电磁测量会议（CPEM 2018）- 国家计量院冯·克利青常数新测量的进展
摘要： 本文描述了通过在中国计量科学研究院（NIM）采用正交传输方法，将新型可计算电容器与量子化霍尔电阻相关联，从而对冯·克利青常数（Rk）进行新测量的研究进展。文中介绍了新型可计算电容器、光学干涉测量技术以及阻抗测量链的最新改进情况。
关键词： 冯·克利青常数、光学干涉测量法、电桥电路、可计算电容器、阻抗测量、测量标准
更新于2025-09-10 09:29:36
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[2018年IEEE精密电磁测量会议（CPEM 2018）- 法国巴黎（2018.7.8-2018.7.13）] 2018年精密电磁测量会议（CPEM 2018）- 四端对数字采样阻抗电桥（频率高达1 MHz）
摘要： 本文介绍了一种适用于最高1 MHz频率范围的新型四端对数字采样阻抗电桥。该电桥主要用于校准电流分流器的相位角，但能够比较全复平面内最高约100 kW的任意阻抗标准。对已知标准的实验测量显示，在1 MHz频率下该电桥偏差低于50 μW/W，相位偏差低于500 μrad。
关键词： 电桥电路、采样方法、阻抗测量、分流器（电气）、相位比较器
更新于2025-09-10 09:29:36