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超精细结构对共振激光-次级中性粒子质谱法中钚的影响
摘要： 共振电离质谱法是一种用于原子光谱分析、电离和检测的超灵敏、高元素选择性工具，因此能够测定稀有同位素。通过与初始离子束（例如在商用二次离子质谱仪中）实现的中性粒子空间分辨溅射相结合，该技术可对粒子和表面进行微米级分辨率的、具有同位素和同量异位素选择性的分析。利用这种超痕量分析技术检测环境和工艺样品中微量特定锕系元素（如钚），需要详细了解该元素的原子物理学特性。必须确定并表征在所用仪器特定几何结构中应用的特定共振电离方案。本文分析了仪器参数（特别是相对激光束偏振的影响）的依赖性，这一因素可能对同位素比精度和最终离子信号的整体效率产生重大影响。
关键词： 痕量分析、次级中性粒子质谱法、钚、共振电离、激光束偏振、同位素比
更新于2025-09-19 17:13:59
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通过激光光谱法和质谱法对放射性同位素进行痕量分析
摘要： 对放射性同位素进行痕量分析（飞克级水平）需要分析技术的重大突破。其中最灵敏的方法包括：用于检测元素组成和价态的时间分辨激光诱导荧光法（TRLIF）与化学发光法（TRLIC），以及结合质谱技术用于测定同位素组成的共振电离光谱法（RIS）。本文讨论了环境放射化学和行星科学中关注的放射性同位素及其TRLIF/TRLIC/RIS分析方法，并阐述了应用这些方法的新技术开发相关问题。
关键词： 质谱法、共振电离质谱（RIMS）、热表面反应离子化激光色谱（TRLIC）、热表面反应离子化激光诱导荧光（TRLIF）、痕量分析、共振电离光谱（RIS）、激光光谱学
更新于2025-09-16 10:30:52